按照測試規范的要求，在發送信號質量的測試中，只要有1個Preset值下能夠通過信 號質量測試就算過關；但是在Preset的測試中，則需要依次遍歷所有的Preset,并依次保存 波形進行分析。對于PCIe3.0和PCIe4.0的速率來說，由于采用128b/130b編碼，其一致性測試碼型比之前8b/10b編碼下的一致性測試碼型要復雜，總共包含36個128b/130b的   編碼字。通過特殊的設計， 一致性測試碼型中包含了長“1”碼型、長“0”碼型以及重復的“01” 碼型，通過對這些碼型的計算和處理，測試軟件可以方便地進行預加重、眼圖、抖動、通道損   耗的計算。 11是典型PCle3.0和PCIe4.0速率下的一致性測試碼型。PCI-E X16,PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區別是什么？設備PCI-E測試推薦貨源

PCIe4.0標準在時鐘架構上除了支持傳統的共參考時鐘(Common Refclk,CC)模式以 外，還可以允許芯片支持參考時鐘(Independent Refclk,IR)模式，以提供更多的連接靈 活性。在CC時鐘模式下，主板會給插卡提供一個100MHz的參考時鐘(Refclk),插卡用這 個時鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個參考時鐘可以在主機打開擴頻時鐘 (SSC)時控制收發端的時鐘偏差，同時由于有一部分數據線相對于參考時鐘的抖動可以互 相抵消，所以對于參考時鐘的抖動要求可以稍寬松一些自動化PCI-E測試價目表pcie 有幾種類型,哪個速度快?

PCIe4.0的測試夾具和測試碼型要進行PCIe的主板或者插卡信號的一致性測試(即信號電氣質量測試),首先需要使用PCIe協會提供的夾具把被測信號引出。PCIe的夾具由PCI-SIG定義和銷售，主要分為CBB(ComplianceBaseBoard)和CLB(ComplianceLoadBoard)。對于發送端信號質量測試來說，CBB用于插卡的測試，CLB用于主板的測試；但是在接收容限測試中，由于需要把誤碼儀輸出的信號通過夾具連接示波器做校準，所以無論是主板還是插卡的測試，CBB和CLB都需要用到。

相應地，在CC模式下參考時鐘的 抖動測試中，也會要求測試軟件能夠很好地模擬發送端和接收端抖動傳遞函數的影響。而 在IR模式下，主板和插卡可以采用不同的參考時鐘，可以為一些特殊的不太方便進行參考 時鐘傳遞的應用場景(比如通過Cable連接時)提供便利，但由于收發端參考時鐘不同源，所 以對于收發端的設計難度要大一些(比如Buffer深度以及時鐘頻差調整機制)。IR模式下 用戶可以根據需要在參考時鐘以及PLL的抖動之間做一些折中和平衡，保證*終的發射機 抖動指標即可。圖4.9是PCIe4.0規范參考時鐘時的時鐘架構，以及不同速率下對于 芯片Refclk抖動的要求。PCI-E測試信號質量測試；

PCIe4.0的物理層技術PCIe標準自從推出以來，1代和2代標準已經在PC和Server上使用10多年時間，正在逐漸退出市場。出于支持更高總線數據吞吐率的目的，PCI-SIG組織分別在2010年和2017年制定了PCIe3.0和PCIe4.0規范，數據速率分別達到8Gbps和16Gbps。目前，PCIe3.0和PCle4.0已經在Server及PC上使用，PCIe5.0也在商用過程中。每一代PCIe規范更新的目的，都是要盡可能在原有PCB板材和接插件的基礎上提供比前代高一倍的有效數據傳輸速率，同時保持和原有速率的兼容。別看這是一個簡單的目的，但實現起來并不容易。PCIE物理層鏈路一致性測試狀態設計；自動化PCI-E測試產品介紹

pcie4.0和pcie2.0區別？設備PCI-E測試推薦貨源

PCIe4.0的發射機質量測試發射機質量是保證鏈路能夠可靠工作的先決條件，對于PCIe的發射機質量測試來說，主要是用寬帶示波器捕獲其發出的信號并驗證其信號質量滿足規范要求。按照目前規范中的要求，PCIe3.0的一致性測試需要至少12.5GHz帶寬的示波器；而對于PCIe4.0來說，由于數據速率提高到了16Gbps,所以測試需要的示波器帶寬應為25GHz或以上。如果要進行主板的測試，測試規范推薦Dual-Port(雙口)的測試方式，即把被測的數據通道和參考時鐘同時接入示波器，這樣在進行抖動分析時就可以把一部分參考時鐘中的抖動抵消掉，對于參考時鐘Jitter的要求可以放松一些。設備PCI-E測試推薦貨源

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