邁克爾遜干涉儀，是1881年美國物理學家邁克爾遜和莫雷合作，為研究“以太”漂移而設計制造出來的精密光學儀器。它是利用分振幅法產生雙光束以實現干涉。通過調整該干涉儀，可以產生等厚干涉條紋，也可以產生等傾干涉條紋。主要用于長度和折射率的測量，若觀察到干涉條紋移動一條，便是M2的動臂移動量為λ/2，等效于M1與M2之間的空氣膜厚度改變λ/2。在近代物理和近代計量技術中，如在光譜線精細結構的研究和用光波標定標準米尺等實驗中都有著重要的應用。利用該儀器的原理，研制出多種**干涉儀。 [1]實時測量：可以實現實時監測和數據采集，適合動態測量。昆山耐用雙頻激光干涉儀銷售廠

激光干涉儀，以激光波長為已知長度，利用邁克耳遜干涉系統測量位移的通用長度測量。激光具有**度、高度方向性、空間同調性、窄帶寬和高度單色性等優點。目前常用來測量長度的干涉儀，主要是以邁克爾遜干涉儀為主，并以穩頻氦氖激光為光源，構成一個具有干涉作用的測量系統。激光干涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來作線性位置、速度、角度、真平度、真直度、平行度和垂直度等測量工作，并可作為精密工具機或測量儀器的校正工作。英文名稱：laser interferometer（激光干涉儀）昆山耐用雙頻激光干涉儀銷售廠激光器產生兩束頻率相近的激光（如利用塞曼效應或聲光調制），頻率分別為f1和f2。

折射率測定兩光束的幾何路程保持不變，介質折射率變化也可導致光程差的改變，從而引起條紋移動。瑞利干涉儀就是通過條紋移動來對折射率進行相對測量的典型干涉儀。應用于風洞的馬赫-秦特干涉儀被用來對氣流折射率的變化進行實時觀察。波長的測量任何一個以波長為單位測量標準米尺的方法也就是以標準米尺為單位來測量波長的方法。以國際米為標準，利用干涉儀可精確測定光波波長。法布里-珀**涉儀（標準具）曾被用來確定波長的初級標準（鎘紅譜線波長）和幾個次級波長標準，從而通過比較法確定其他光譜線的波長。

干涉儀是一種使用干涉測量技術的光學計量儀器，其思想在于利用波的疊加性來獲取波的相位信息，從而獲得實驗所關心的物理量。以下是對干涉儀的詳細介紹：一、基本原理具有固定相位差的兩列準單色波的疊加將導致振幅發生變化，從而可以通過測量較容易測量的振幅來獲取波的相位信息。由于幅度變化依賴于相位差的余弦函數，這種幅度的變化有時候在空間表現為周期性的條紋，即干涉條紋。基本構成干涉儀一般由光源、分束器、反射鏡、干涉屏（或檢測器）等組成。光源發出的光經過分束器被分成兩束，分別經由反射鏡反射回來，并在干涉屏（或檢測器）上產生干涉圖樣。其中，各元件的功能如下：光纖干涉儀：利用光纖中的光波干涉現象，廣泛應用于傳感器、通信等領域。

(1)接受信號為交流信號，前置放大器為高倍數的交流放大器，不用直流放大，故沒有零點漂移等問題。(2)利用多普勒效應，計數器計頻率差的變化，不受激光強度和磁場變化的影響。在光強度衰減90%時仍可得到滿意的信號，這對于遠距離測量是十分重要的，同時在近距離測量時又能簡化調整工作。(3)測量精度不受空氣湍流的影響，無需預熱時間。用激光干涉儀作為機床的測量系統可以提高機床的精度和效率。起初*用于高精度的磨床、鏜床和坐標測量機上，以后又用于加工中心的定位系統中。而雙頻激光干涉儀正好克服了這一弱點，它是在單頻激光干涉儀的基礎上發展的一種外差式干涉儀。昆山耐用雙頻激光干涉儀銷售廠

其原因在于它是一種直流測量系統，必然具有直流光平和電平零漂的弊端。昆山耐用雙頻激光干涉儀銷售廠

工程測量：用于高精度的長度測量和地形測量。波譜分析：用于分析光譜的精細結構和超精細結構。量子物理實驗：用于研究量子光學、原子物理學等領域的物理現象。五、發展歷史與現狀19世紀的波動論者認為光波或電磁波必須在彈性介質中才得以傳播，這種假想的彈性介質稱為以太。人們做了一系列實驗來驗證以太的存在并探求其屬性，以干涉原理為基礎的實驗**為精確，其中**有名的是菲佐實驗和邁克耳孫-莫雷實驗。隨著激光器的發展，干涉儀開始使用激光作為光源，提高了測量的精度和穩定性。到了20世紀70年代以后，隨著計算機技術的發展，將激光干涉儀和電子計算機綜合起來的許多新的干涉儀，可以實現實時測量。目前，干涉儀已經成為一種重要的精密測量工具，在各個領域發揮著重要作用。昆山耐用雙頻激光干涉儀銷售廠

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