徠卡金相顯微鏡DM8000M為您帶來的優勢有：視野擴大四倍以上極限分辨率視野擴大四倍以上宏觀放大功能使您可以比傳統掃描物鏡多看四倍以上的視野。極限分辨率全新的傾斜紫外模式(OUV)在紫外光基礎上結合了傾斜光設計理念，確保您可以從任何角度都得到可見物理光學的極限分辨率。人機工程學設計非常適合長時間在顯微鏡上工作,直觀操作適應任何程度的使用者。LED照明內置一體化的LED照明達到了*的空氣環流.長壽命和低能耗的LED特性同樣為用戶節省了大量成本。人機工程學設計LED照明在相同條件下對大量類似標本進行試驗時，速度和再現性極為重要。徠卡金相顯微鏡DM8000M的智能光欄和光強度調節、電動聚焦、自動對比度管理系統，自動物鏡變換(包括自動化DIC功能)能在短時間內完成對圖像要求苛刻的工作。數碼顯微鏡是將精銳的光學顯微鏡技術、液晶屏幕技術完美地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。常州多功能顯微鏡哪個牌子好

DM8000M徠卡金相顯微鏡主要用來觀察金相組織的專業儀器，是專門用于觀察金屬和礦物等不透明物體金相組織的顯微鏡。DM8000M系列采用高產能8寸晶元檢查及缺陷分析系統，只要一指按鍵您就可以切換放大倍率，照明模式或相襯模式。徠卡金相顯微鏡DM8000M提供了全新的光學設計，如理想的宏觀檢查模式或者傾斜紫外光(OUV,隨檢UV選擇)不但提高了分辨能力，同時也增加了觀察8’’/200毫米直徑大樣品時的產量。該機照明基于新的LED科技，一體化整合在顯微鏡機身上。低熱輻射效應和一體化內置技術確保了顯微鏡四周空間具有理想化的空氣環流。LED的超長使用壽命和低能耗特性降低了用戶今后的使用成本.。只要一指按鍵您就可以切換放大倍率，照明模式或相襯模式。徠卡金相顯微鏡DM8000M為您帶來的優勢有：視野擴大四倍以上極限分辨率視野擴大四倍以上宏觀放大功能使您可以比傳統掃描物鏡多看四倍以上的視野。極限分辨率全新的傾斜紫外模式(OUV)在紫外光基礎上結合了傾斜光設計理念，確保您可以從任何角度都得到可見物理光學的極限分辨率。人機工程學設計非常適合長時間在顯微鏡上工作,直觀操作適應任何程度的使用者。宿遷正向顯微鏡上海顯微鏡廠家-茂鑫-提供品質顯微鏡廠家！

為維持儀器的原有精度和延長儀器的使用壽命，保證測量工作的順利進行，故對儀器必須細心的保養和使用。1.儀器使用和安放地點須避免灰塵、潮濕、過冷、過熱及酸堿性的氣體。2.儀器使用環境要求：室內溫度15-25，濕度45%-85%。3．平時儀器不用時，應有保護罩蓋住，并放置干燥劑。4．透鏡表面若有灰塵，應先用軟毛筆拭去，方可進行拭擦。5．透鏡的拭擦采用脫脂的棉花、紗布或透鏡紙，透鏡表面若有油漬時，可用脫指棉沾以少許酒精和.混合液（或二甲苯）輕輕擦拭。6．儀器立柱及未涂漆的其它外表面，要涂以薄層潤滑油脂，對機械部分所附油脂，因日久硬化或灰塵積累，必須清洗，然后再擦上少許潤滑油脂。7．儀器出廠前皆經過慎重校驗，為了保持原有精度，除允許移動的部分外，其余部分如必須拆卸修理，應送有關修理部門或專責人員指導下方可進行。七、9j光切法顯微鏡的成套性：儀器的成套性見表3表3序號名稱單位數量備注1主機臺12測微目鏡只13坐標工作臺件14v型塊件15（連盒）件167x物鏡只1714x物鏡只1830x物鏡只1960x物鏡只110可調變壓器（220v/6-4v、5w）件111適配鏡件1選購12數碼相機只1選購（鏡頭接口與適配鏡相配）13燈泡（6v、）只3備用本產品的類型是光學儀器。

DM8000M徠卡金相顯微鏡主要用來觀察金相組織的專業儀器，是專門用于觀察金屬和礦物等不透明物體金相組織的顯微鏡。DM8000M系列采用高產能8寸晶元檢查及缺陷分析系統，只要一指按鍵您就可以切換放大倍率，照明模式或相襯模式。徠卡金相顯微鏡DM8000M提供了全新的光學設計，如理想的宏觀檢查模式或者傾斜紫外光(OUV,隨檢UV選擇)不但提高了分辨能力，同時也增加了觀察8’’/200毫米直徑大樣品時的產量。該機照明基于新的LED科技，一體化整合在顯微鏡機身上。低熱輻射效應和一體化內置技術確保了顯微鏡四周空間具有理想化的空氣環流。LED的超長使用壽命和低能耗特性降低了用戶今后的使用成本.。只要一指按鍵您就可以切換放大倍率，照明模式或相襯模式。茂鑫便攜式顯微鏡-專注光電儀器！

透射電子顯微鏡TEM透射電子顯微鏡（TransmissionElectronMicroscope,簡稱TEM），是一種把經加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏，膠片以及感光耦合組件）上顯示出來的顯微鏡。1背景知識在光學顯微鏡下無法看清小于，這些結構稱為亞顯微結構或超細結構。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡，電子束的波長比可見光和紫外光短得多，并且電子束的波長與發射電子束的電壓平方根成反比，也就是說電壓越高波長越短。目前TEM分辨力可達。▽電子束與樣品之間的相互作用圖來源：《CharacterizationTechniquesofNanomaterials》[書]透射的電子束包含有電子強度、相位以及周期性的信息，這些信息將被用于成像。2TEM系統組件TEM系統由以下幾部分組成：l電子.：發射電子。由陰極，柵極和陽極組成。陰極管發射的電子通過柵極上的小孔形成射線束，經陽極電壓加速后射向聚光鏡，起到對電子束加速和加壓的作用。主要用于放大微小物體成為人的肉眼所能看到的儀器。鄭州顯微鏡報價

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微懸臂被壓電驅動器激發到共振振蕩。振蕩振幅用來作為反饋信號去測量樣品的形貌變化。在相位成像中，微懸臂振蕩的相角和微懸臂壓電驅動器信號，同時被EEM（extenderelectronicsmodule）記錄，它們之間的差值用來測量表面性質的不同（如圖）。可同時觀察輕敲模式形貌圖像和相位圖像，并且分辨率與輕敲模式原子力顯微鏡（AFM）的相當。相位圖也能用來作為實時反差增強技術，可以更清晰觀察表面完好結構并不受高度起伏的影響。大量結果表明，相位成像同摩擦力顯微鏡（LFM）相似，都對相對較強的表面摩擦和粘附性質變化很靈敏。目前，雖然還沒有明確的相位反差與材料單一性質間的聯系，但是實例證明，相位成像在較寬應用范圍內可給出很有價值的信息。例如，利用力調制和相位技術成像LB膜等柔軟樣品，可以揭示出針尖和樣品間的彈性相互作用。另外，相位成像技術彌補了力調制和LFM方法中有可能引起樣品損傷和產生較低分辨率的不足，經常可提供更.辨率的圖像細節，提供其他SFM技術揭示不了的信息。相位成像技術在復合材料表征、表面摩擦和粘附性檢測以及表面污染過程觀察等廣泛應用表明，相位成像將對在納米尺度上研究材料性質起到重要作用。常州多功能顯微鏡哪個牌子好