AOI自動光學檢測設備比較大的優點就是可以取代以前SMT爐前、爐后的人工目檢作業，而且可以比人眼更精確的判斷出SMT的打件組裝缺點。但就如同人眼一般，AOI基本上也*能執行物件的表面檢查，所以只要是物件表面上可以看得到的形狀，它都可以正確無誤的檢查出來，但對于藏在零件底下或是零件邊緣的焊點可能能力有限，當然現在有許多的AOI已經可以作到多角度的攝影來增加其對IC腳翹的檢出能力，并增加某些被遮蔽元件的攝影角度，以提供更多的檢出率。AOI自動光學檢測設備有個比較大的缺點是有些灰階或是陰影明暗不是很明顯的地方，比較容易出現誤判的情況，這些或許可以使用不同顏色的燈光來加以判別，但**麻煩的還是那些被其他零件遮蓋到的元件以及位于元件底下的焊點，因為傳統的AOI只能檢測直射光線所能到達的地方，像是屏蔽框肋條或是其邊緣底下的元件，往往就會因為AOI檢測不到而漏掉。關于AOI設備光學檢測的優勢。東莞半導體AOI檢測設備市場價

在SMT生產線中，設備是基礎的SMT生產手段，必要的SMT貼片設備可以提高生產效率，讓廠家的PCB加工質量得到保證。AOI是SMT貼片生產過程中重要的設備之一，是保證產品品質的關鍵手段。下面由和田古德小編為大家介紹AOI檢測設備在SMT貼片生產中的主要作用：首先，我們知道AOI檢測設備的工作原理是：當自動檢測時，機器通過攝像頭自動掃描PCB/PCBA，采集圖像，測試的焊點與數據庫中合格的參數進行比較，然后通過圖像處理，檢查出PCB/PCBA上的缺陷，并通過顯示器或自動標志把缺陷顯示/標示出來，供SMT維修人員修整。AOI檢測設備的類型包括：1、按結構分類：簡易型手動離線AOI設備，離線AOI設備，在線AOI設備等；2、按分辨率分類：0402元件AOI設備，0201元件AOI設備；3、按相機分類：單相機，雙相機，多攝像機等。江門高速AOI檢測設備維保AOI是新興起的一種新型測試技術，但發展迅速，很多廠家都推出了AOI測試設備。

早期的時候AOI大多被拿來檢測IC(積體電路)封裝后的表面印刷是否有缺陷，隨著技術的演進，現在則被拿來用在SMT組裝線上檢測電路板上的零件組裝(PCBAssembly)后的品質狀況，或是檢查錫膏印刷后有否符合標準。AOI比較大的優點就是可以取代以前SMT爐前爐后的人工目檢作業，而且可以比人眼更精確的判斷出SMT的打件組裝缺點。但就如同人眼一般，AOI基本上也只能執行物件的表面檢查，所以只要是物件表面上可以看得到的形狀，它都可以正確無誤的檢查出來，但對于藏在零件底下或是零件邊緣的焊點可能就有些力有未逮，當然現在有許多的AOI已經可以作到多角度的攝影來增加其對于IC腳翹的檢出能力，并增加某些被遮閉元件的攝影角度，以提供更多的檢出率，但效果總是不盡理想，難以達到100％的測試含蓋率。其實，AOI比較大的缺點是有些灰階或是陰影明暗不是很明顯的地方，也就比較容易出現誤判的情況，這些或許可以使用不同顏色的燈光來加以判別，但較較麻煩的還是那些被其他零件遮蓋到的元件以及位于元件底下的焊點，因為傳統的AOI只能檢測直射光線所能到達的地方，像是屏閉框肋條或是其邊緣底下的元件，往往就會因為AOI檢測不到而漏了過去。

SMT中應用的錫膏檢測技術的形式多種多樣，但其中AOI的基本原理是相同的，就是用光學原理獲取被測物品圖象，一般通過攝像機獲得檢測物的照明圖象然后數字化，再以某種方法進行比較、分析、檢驗和判斷，相當于將人工目視檢測轉變為自動化、智能化。AOI分析和判斷的算法可分為兩種，一種是設計規則檢驗（矢量分析），一種是圖形識別檢驗。矢量分析是按照固定的規則檢測圖形。一般是所有連線以焊點為端點，所有引線寬度、間隔不小于某一規定值等規則檢測PCB電路圖形。1、按結構分類：簡易型手動離線AOI設備，離線AOI設備，在線AOI設備等；

AOI工作的原理對比1.統計建模方式：圖像對比（ImageMatching）的處理方式。通過對OK模板與實際圖像的對比，求出差異的程度，來進行檢測。這種方式對使用人員要求低，但適應性，檢測能力方面有諸多問題。早期，因為開發簡單，我國有不少AOI制造商，加以改善（模板有多幅OJ圖像疊加而成），美其名曰：“統計建模”。2.邏輯算法方式：通過算法對圖像的特征點的抽取，來進行檢測。這種方式對使用人員要求有一定的經驗。基于算法的檢測方法經過很多年的發展，已經非常成熟穩定，并且在實際運用中取得了很好的效果。被行業前列的AOI制造商采用。AOI的包含情況以及三種檢測方法，歡迎來電咨詢。肇慶多功能AOI檢測設備設備價錢

AOI工作流程進料→AOI檢驗→VRS確認→熒光幕監視修補→出貨為什么需要AOI？東莞半導體AOI檢測設備市場價

AOI的包含情況以及三種檢測方法一、AOI系統一般包含：1.照明系統2.光學透鏡3.CCD攝像系統4.檢測工作臺5.檢測程序6.預存模板7.圖像處理識別系統8.數據記錄處理系統二、三種檢測算法1.DRC檢測基本思想：DRC使用一套用戶設計的規則來檢測違反設計規則的二進制數據，所有不符合規則的特征都認為是缺陷。規則包括：允許的較大較小線寬、較大較小焊盤尺寸、較小導體間距、所有線寬都必須以焊盤結束等。檢測缺陷：毛刺、鼠咬、線條、間距、焊盤尺寸違反等。2.特征比較基本思想：分別提取模板（CAM或者黃金模板）和待檢圖像中的鏈接性特征，然后比較結果，不同之處就是缺陷。檢測缺陷：開路，短路3.粗檢測缺陷基本思想：將模板圖像和待檢圖像進行異或運算，得到圖像之間的不同。檢測缺陷：大缺陷（丟失或多余的大焊盤）東莞半導體AOI檢測設備市場價