對于PCIe來說，由于長鏈路時的損耗很大，因此接收端的裕量很小。為了掌握實際工 作環(huán)境下芯片內(nèi)部實際接收到的信號質(zhì)量，在PCIe3.0時代，有些芯片廠商會用自己內(nèi)置 的工具來掃描接收到的信號質(zhì)量，但這個功能不是強制的。到了PCIe4.0標準中，規(guī)范把 接收端的信號質(zhì)量掃描功能作為強制要求，正式名稱是Lane Margin(鏈路裕量)功能。 簡單的Lane Margin功能的實現(xiàn)是在芯片內(nèi)部進行二維的誤碼率掃描，即通過調(diào)整水平方 向的采樣點時刻以及垂直方向的信號判決閾值，如果被測件是標準的PCI-E插槽接口，如何進行PCI-E的協(xié)議分析？山西校準PCI-E測試

(9)PCle4.0上電階段的鏈路協(xié)商過程會先協(xié)商到8Gbps,成功后再協(xié)商到16Gbps;(10)PCIe4.0中除了支持傳統(tǒng)的收發(fā)端共參考時鐘模式，還提供了收發(fā)端采用參考時鐘模式的支持。通過各種信號處理技術的結合，PCIe組織總算實現(xiàn)了在兼容現(xiàn)有的FR-4板材和接插  件的基礎上，每一代更新都提供比前代高一倍的有效數(shù)據(jù)傳輸速率。但同時收/發(fā)芯片會變  得更加復雜，系統(tǒng)設計的難度也更大。如何保證PCIe總線工作的可靠性和很好的兼容性， 就成為設計和測試人員面臨的嚴峻挑戰(zhàn)。設備PCI-E測試推薦貨源PCI-e體系的拓撲結構;

需要注意的是，每一代CBB和CLB的設計都不太一樣，特別是CBB的 變化比較大，所以測試中需要加以注意。圖4.10是支持PCIe4.0測試的夾具套件，主要包括1塊CBB4測試夾具、2塊分別支持x1/x16位寬和x4/x8位寬的CLB4測試夾具、1塊可 變ISI的測試夾具。在測試中，CBB4用于插卡的TX測試以及主板RX測試中的校準； CLB4用于主板TX的測試以及插卡RX測試中的校準；可變ISI的測試夾具是PCIe4 .0中 新增加的，無論是哪種測試，ISI板都是需要的。引入可變ISI測試夾具的原因是在PCIe4.0 的測試規(guī)范中，要求通過硬件通道的方式插入傳輸通道的影響，用于模擬實際主板或插卡上 PCB走線、過孔以及連接器造成的損耗。

是用矢量網(wǎng)絡分析儀進行鏈路標定的典型連接，具體的標定步驟非常多，在PCIe4.0 Phy Test Specification文檔里有詳細描述，這里不做展開。

在硬件連接完成、測試碼型切換正確后，就可以對信號進行捕獲和信號質(zhì)量分析。正式 的信號質(zhì)量分析之前還需要注意的是：為了把傳輸通道對信號的惡化以及均衡器對信號的 改善效果都考慮進去，PCIe3.0及之后標準的測試中對其發(fā)送端眼圖、抖動等測試的參考點 從發(fā)送端轉(zhuǎn)移到了接收端。也就是說，測試中需要把傳輸通道對信號的惡化的影響以及均 衡器對信號的改善影響都考慮進去。 PCIE3.0和PCIE4.0應該如何選擇？

規(guī)范中規(guī)定了共11種不同的Preshoot和De-emphasis的組合，每種組合叫作一個 Preset,實際應用中Tx和Rx端可以在Link Training階段根據(jù)接收端收到的信號質(zhì)量協(xié)商 出一個比較好的Preset值。比如P4沒有任何預加重，P7強的預加重。圖4.3是 PCIe3.0和4.0標準中采用的預加重技術和11種Preset的組合(參考資料：PCI Express@ Base Specification4 .0) 。對于8Gbps、16Gbps 以及32Gbps信號來說，采用的預加重技術完 全一樣，都是3階的預加重和11種Preset選擇。為什么PCI-E3.0的夾具和PCI-E2.0的不一樣？中國香港PCI-E測試銷售電話

PCI-E PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區(qū)別是什么？山西校準PCI-E測試

由于每對數(shù)據(jù)線和參考時鐘都是差分的，所以主  板的測試需要同時占用4個示波器通道，也就是在進行PCIe4.0的主板測試時示波器能夠  4個通道同時工作且達到25GHz帶寬。而對于插卡的測試來說，只需要把差分的數(shù)據(jù)通道  引入示波器進行測試就可以了，示波器能夠2個通道同時工作并達到25GHz帶寬即可。 12展示了典型PCIe4.0的發(fā)射機信號質(zhì)量測試環(huán)境。無論是對于發(fā)射機測試，還是對于后面要介紹到的接收機容限測試來說，在PCIe4.0 的TX端和RX端的測試中，都需要用到ISI板。ISI板上的Trace線有幾十對，每相鄰線對 間的插損相差0.5dB左右。由于測試中用戶使用的電纜、連接器的插損都可能會不一致， 所以需要通過配合合適的ISI線對，使得ISI板上的Trace線加上測試電纜、測試夾具、轉(zhuǎn)接  頭等模擬出來的整個測試鏈路的插損滿足測試要求。比如，對于插卡的測試來說，對應的主  板上的比較大鏈路損耗為20dB,所以ISI板上模擬的走線加上測試夾具、連接器、轉(zhuǎn)接頭、測  試電纜等的損耗應該為15dB(另外5dB的主板上芯片的封裝損耗通過分析軟件進行模擬)。 為了滿足這個要求，比較好的方法是使用矢量網(wǎng)絡分析儀(VNA)事先進行鏈路標定。山西校準PCI-E測試

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