掃描電子顯微鏡的應(yīng)用：1、掃描電鏡觀察生物試樣：由于電子照射面發(fā)生試樣的損傷和污染程度很小，這一點(diǎn)對(duì)觀察一些生物試樣特別重要。2、掃描電鏡進(jìn)行動(dòng)態(tài)觀察：在樣品室內(nèi)裝有加熱、冷卻、彎曲、拉伸和離子刻蝕等附件，則可以通過(guò)電視裝置，觀察相變、斷烈等動(dòng)態(tài)的變化過(guò)程。3、掃描電鏡觀察試樣表面形貌：掃描電鏡除了觀察表面形貌外還能進(jìn)行成分和元素的分析，以及通過(guò)電子通道花樣進(jìn)行結(jié)晶學(xué)分析，選區(qū)尺寸可以從10μm到3μm。原位加載設(shè)備對(duì)載物臺(tái)無(wú)特殊要求，適合研究的樣品非常廣。顯微鏡原位加載系統(tǒng)銷售商

原位加載掃描電鏡的擴(kuò)展技術(shù)：基于新的顯微觀測(cè)技術(shù)的原位加載技術(shù)在材料力學(xué)性能研究中也有采用，并且體現(xiàn)出克服原位加載體視學(xué)顯微鏡缺陷的趨勢(shì)。環(huán)境掃描電鏡所特有的低真空和環(huán)境模式，使其可以對(duì)含水試樣在自然狀態(tài)下進(jìn)行觀察，不需對(duì)試樣進(jìn)行干燥和涂層處理，避免了在觀察前使試樣產(chǎn)生的一些人為改變。因此，環(huán)境掃描電鏡對(duì)觀測(cè)含水樣品在原位加載下的細(xì)觀損傷過(guò)程有其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。在環(huán)境掃描電子顯微鏡樣品艙內(nèi)低真空模式下，對(duì)魚鱗云杉微切片試樣進(jìn)行原位縱向拉伸試驗(yàn)，并對(duì)原位監(jiān)測(cè)裂紋的產(chǎn)生、開(kāi)裂及擴(kuò)展的全過(guò)程進(jìn)行研究，同時(shí)記錄了載荷-時(shí)間曲線。分析了徑向面裂紋擴(kuò)展系統(tǒng)的斷裂路徑和機(jī)理。顯微鏡原位加載系統(tǒng)銷售商基于原位加載掃描電鏡研究的結(jié)果進(jìn)行深人的定量分析，可獲得更有價(jià)值的研究成果。

臺(tái)式掃描電鏡的工作原理：從原理上講，掃描電子顯微鏡是利用非常精細(xì)聚焦的高能電子束在樣品上掃描，激發(fā)各種物理信息。通過(guò)對(duì)這些信息的接受、放大和顯示成像，可以獲得對(duì)試樣表面形貌的觀察。掃描電子顯微鏡（SEM）——一種電子光學(xué)儀器，它利用很細(xì)的電子束掃描被觀察樣品的表面，收集電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的一系列電子信息，并對(duì)圖像進(jìn)行變換和放大。它是研究三維表面結(jié)構(gòu)的有用工具。在高真空鏡筒中，電子設(shè)備產(chǎn)生的電子束通過(guò)電子會(huì)聚透鏡聚焦成細(xì)束，然后逐點(diǎn)掃描轟擊樣品表面。

原位加載試驗(yàn)機(jī)：配合光學(xué)顯微鏡、X射線衍射儀等微觀觀測(cè)設(shè)備，實(shí)現(xiàn)材料在加載過(guò)程中微觀組織演化規(guī)律的在線表征；可實(shí)現(xiàn)單軸單獨(dú)測(cè)試，也可以實(shí)現(xiàn)雙軸比例、非比例加載測(cè)試；可增加水浴環(huán)境，可測(cè)試材料（如水浴、腐蝕環(huán)境）下的雙軸力學(xué)性能測(cè)試；選配視頻引伸計(jì)，實(shí)現(xiàn)雙軸應(yīng)變的非接觸測(cè)量；配合自主開(kāi)發(fā)的專業(yè)軟件，實(shí)現(xiàn)雙軸同步拉伸、循環(huán)、異步加載等其他試驗(yàn)方案。原位加載，確保試樣中心位置不變。搭配顯微觀測(cè)設(shè)備，實(shí)現(xiàn)微觀組織在線觀測(cè)。雙軸單獨(dú)控制，可實(shí)現(xiàn)雙軸比例加載、雙軸非比例加載、單軸單獨(dú)加載。進(jìn)口高精度載荷傳感器、位移傳感器。商業(yè)化的完全自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的控制器、驅(qū)動(dòng)器，可擴(kuò)展性。CT原位加載設(shè)備特點(diǎn)有實(shí)時(shí)繪制多種曲線，助力試驗(yàn)研究。

原位加載微CT系統(tǒng)：在力學(xué)試驗(yàn)機(jī)上設(shè)置實(shí)驗(yàn)環(huán)境箱體,一對(duì)夾具的末端固定在力學(xué)試驗(yàn)機(jī)的橫梁上,頭端伸入至實(shí)驗(yàn)環(huán)境箱體內(nèi)夾持試樣,并通過(guò)制冷裝置和加熱裝置控制實(shí)驗(yàn)環(huán)境箱體內(nèi)的環(huán)境溫度,通過(guò)測(cè)溫元件實(shí)時(shí)反饋,并配合導(dǎo)流結(jié)構(gòu)加速實(shí)驗(yàn)環(huán)境箱體內(nèi)熱量的傳遞,實(shí)現(xiàn)溫度快速精確的負(fù)反饋控制,力學(xué)試驗(yàn)機(jī)通過(guò)夾具對(duì)試樣進(jìn)行力學(xué)加載,同時(shí)微焦點(diǎn)X射線源通過(guò)防霧霜射線窗口對(duì)試樣進(jìn)行微CT掃描,重構(gòu)很低溫環(huán)境下試樣原位受載時(shí)內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)和損傷形貌,為很低溫環(huán)境下材料失效機(jī)理和損傷演化規(guī)律的研究奠定基礎(chǔ);通過(guò)防霧霜射線窗口,避免外側(cè)窗口薄片出現(xiàn)起霧和結(jié)霜的現(xiàn)象。環(huán)境掃描電鏡對(duì)觀測(cè)含水樣品在原位加載下的細(xì)觀損傷過(guò)程有其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。河南x(chóng)TS原位加載系統(tǒng)多少錢

原位加載掃描電鏡技術(shù)逐漸成為材料性能研究中的一種重要技術(shù)。顯微鏡原位加載系統(tǒng)銷售商

uTS原位加載系統(tǒng)：光學(xué)顯微鏡和DIC數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)的結(jié)合，可以滿足納米級(jí)精度測(cè)量需求。光學(xué)顯微鏡受可見(jiàn)光波長(zhǎng)限制分辨率只能達(dá)到250nm，由于DIC技術(shù)具有強(qiáng)大圖像處理能力可以準(zhǔn)確實(shí)現(xiàn)0.1像素位移測(cè)量，因此uTS顯微測(cè)試系統(tǒng)的分辨率可達(dá)到25nm。在光學(xué)顯微鏡下材料的原位加載實(shí)驗(yàn)中，較大挑戰(zhàn)在于加載過(guò)程產(chǎn)生的離面位移，高分辨率位移場(chǎng)需要高放大倍數(shù)顯微鏡，意味著景深很小，幾微米的離面位移就會(huì)造成顯微鏡失焦。uTS顯微測(cè)試系統(tǒng)針對(duì)離面位移有特殊的設(shè)計(jì)，有效地控制了離面位移對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果影響。顯微鏡原位加載系統(tǒng)銷售商

研索儀器科技（上海）有限公司致力于儀器儀表，以科技創(chuàng)新實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量管理的追求。研索儀器深耕行業(yè)多年，始終以客戶的需求為向?qū)?，為客戶提供高質(zhì)量的光學(xué)非接觸應(yīng)變/變形測(cè)量，原位加載系統(tǒng)，復(fù)合材料無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)，視頻引伸計(jì)。研索儀器致力于把技術(shù)上的創(chuàng)新展現(xiàn)成對(duì)用戶產(chǎn)品上的貼心，為用戶帶來(lái)良好體驗(yàn)。研索儀器始終關(guān)注自身，在風(fēng)云變化的時(shí)代，對(duì)自身的建設(shè)毫不懈怠，高度的專注與執(zhí)著使研索儀器在行業(yè)的從容而自信。