光源頻閃儀是一種十分重要的光學儀器，廣泛應用于各個領域，為人們提供有價值的光學測量數(shù)據(jù)。抑制光源頻閃是一個重要的技術，需要使用光源頻閃儀來對光源頻率進行監(jiān)測和調(diào)節(jié)。這種儀器可廣泛應用于醫(yī)學、工業(yè)和科學領域。例如，在醫(yī)療設備中，光源頻閃儀可以監(jiān)測光源，確保光源的頻率不會對患者產(chǎn)生不良影響。在工業(yè)生產(chǎn)中，光源頻閃儀可以確保生產(chǎn)過程中的光源不會對設備或產(chǎn)品產(chǎn)生負面影響。在科學實驗中，光源頻閃儀可以用于測量光源頻率，并在實驗室條件下進行調(diào)節(jié)。光源頻閃測試儀可檢測頻閃對學習效率的影響。佛山高速采樣光源頻閃測試儀推薦咨詢

光源頻閃測試儀是一種用于檢測光源頻閃的設備。，頻閃測試儀在一些專業(yè)領域也有著***的應用。例如，在醫(yī)學領域中，頻閃測試儀可以用于測量手術室、檢查室等場所中的燈光頻閃值，以保證醫(yī)護人員和患者的視覺健康。在航空領域中，頻閃測試儀也被廣泛應用于測試機艙燈光的頻閃值，以確保航班中的乘客在長時間的航行中不會感到不適。光源頻閃測試儀在現(xiàn)代社會中的應用越來越***，其重要性也日益凸顯。它不僅保障了人們的視覺健康，還提高了人們的生活質(zhì)量和工作效率。惠州標準光源頻閃測試儀調(diào)試專業(yè)生產(chǎn)光源頻閃測試儀。

光源頻閃分析系統(tǒng)內(nèi)置16bits,采樣速率高達1M的高速A/D;可以測量并顯示的采樣點為2千萬個；l采樣**的微處理器，抗干擾能力強；l系統(tǒng)集高精度快速存儲光度測量、電壓過零點**同步觸發(fā)、觸摸屏顯示于一體；l精密光度探測器：國家標準級（CIECLASSA）；l光通量測量范圍：0.1lm—200klm（與配套積分球大小有關）；l觸發(fā)端電壓輸出穩(wěn)定度：≤0.2%；l觸發(fā)端電壓總失真THD：≤0.5%；l使用USB與計算機通訊、簡單易用，可直觀顯示光源啟動后的光度變化曲線，通過數(shù)據(jù)解析，可自動獲取光源啟動/上升時間；l啟動時間采樣速率：1000次/s,2000次/s,5000次/s,10000次/s,20000次/s,50000次/s,100000次/s（可選）；l啟動時間測試時長：1s-10s可選；l上升時間采樣間隔：0.2s-60s可設定；l上升時間測試時長：1min-1200min可設定；l光度參數(shù)通過功能鍵可以切換光度類型（光通量、光照度、相對光度、光強）；l自動獲取測試環(huán)境溫度和環(huán)境濕度；l可外接供電：DC5V，1A；l貯藏條件：溫度：-20℃～50℃，濕度：≤90%RH；l儀表尺寸：長×寬×高(250mm×258mm×115mm)；l功耗：約5W；l重量：約1.5kg；

電光源的頻閃與頻閃效應概述電光源的頻閃與頻閃效應，給我們的工作和生活帶來了嚴重的危害。然而，我們在應用電光源時，并沒有引起應有的重視和正確的認識。頻閃與頻閃效應是針對電光源，光通量的波動深度和由此產(chǎn)生的危害效應（稱為頻閃效應）大小的兩個互為因果的物理量。頻閃是指電光源光通量波動的深度。光通量波動深度越大，頻閃越嚴重。電光源光通量波動深度大小，與電光源的技術品質(zhì)有直接關系。電光源光通量波動深度大小，通常用百分數(shù)來描述。現(xiàn)階段，己廣泛應用的電光源中，如電感鎮(zhèn)流器驅(qū)動的T8（26mm）直管日光燈、高壓汞燈、高壓鈉燈、金屬鹵化物燈光通量的波動深度高達55％-65％。而市場上部分技術品質(zhì)較差的節(jié)能燈，仍然存在高達20%－30％的頻閃深度。頻閃效應是指電光源由光通量的波動而產(chǎn)生的危害效應，即頻閃產(chǎn)生的危害效應。電光源頻閃越嚴重，頻閃效應危害越嚴重。直觀鑒別與*價節(jié)能燈頻閃與頻閃效應的工具，通常采用頻閃檢測**陀螺。鑒別與*價節(jié)能燈頻閃與頻閃效應，是以太陽光為標準的。太陽光的光通量是平滑穩(wěn)定的，沒有頻閃與頻閃效應危害。節(jié)能燈的光通量平滑穩(wěn)定度，越接近太陽光，節(jié)能燈的頻閃深度越小，頻閃效應危害越小。杭州翊明科技有限公司光源頻閃測試儀能夠精確測量光源的閃爍頻率，提供準確的數(shù)據(jù)支持。

    頻閃效應(stroboscopic effect)的量化 ：CIE TN-006技術備注推薦在頻域內(nèi)對頻閃效應(stroboscopic effect)進行分析量化，采用SVM指數(shù)對頻閃效應進行表征，覆蓋頻段80Hz-2000Hz，即在頻域空間，利用人眼的頻率響應函數(shù)對頻域信號進行歸一化，并采用Minkowski公式統(tǒng)計計算SVM值，見下式，并以此判斷頻閃效應的視見性：SVM=1時，剛好可見;SVM<1時，不可見;SVM>1時，可見。

    目前，對于幻影效應(Phantom array effect)的研究雖然沒有閃爍(Flicker)和頻閃效應(Stroboscopic effect)多，但CIE TC 1-83指出幻影效應也應在頻域進行分析評價，并給出了典型汽車照明產(chǎn)品的幻影效應分析靈敏度曲線示例，如圖5所示。CIE TC 1-83將進一步對幻影效應進行詳細研究，以補充完善評價模型。 在制造業(yè)中，杭州翊明光源頻閃測試儀有助于監(jiān)控光源產(chǎn)品的質(zhì)量。中山LED光源頻閃測試儀歡迎來電

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行業(yè)內(nèi)關于頻閃測量的方法還不統(tǒng)一，主要有IEEE、IEC-Pst、加州CEC、ASSIST和CIE標準等，每個標準的測量方法和量化標準也不盡相同，但結(jié)果都可以作為衡量LED燈具頻閃情況的重要指標，可以由用戶來決定采取哪種標準執(zhí)行測量。IEEE Std 1789標準量化一個開關周期內(nèi)的頻閃百分比，即比較大光輸出與**小光輸出之差除以比較大光輸出與**小光輸出之和。以及頻閃指數(shù)，即一個開關周期內(nèi)超出平均光輸出的量除以全部光輸出。IEC-Pst測量方法是參考IECTR61547-2015基于IEC61000-3-3和IEC61000-4-15等標準提出的應用于照明產(chǎn)品閃爍評價。Pst=1表示50%的實驗者(概率)剛好感覺到閃爍。加州CEC Title 24標準中的JA10章節(jié)專門對可調(diào)光產(chǎn)品的頻閃提出要求，主要通過量化照明系統(tǒng)的光波動，并且用低于某一截止頻率的調(diào)制深度百分比來表征頻閃程度。ASSIST測量是由美國照明研究中心(LCR)領導的固態(tài)照明系統(tǒng)和技術聯(lián)盟(ASSIST)所推薦的，針對可見頻閃的評價和頻閃效應的評價。SVM為CIE推薦的量化頻閃效應的參數(shù)，參考CIEIN:006-2016標準，并得到了LightingEurope和NEMA的推薦。SVM<1，頻閃不可見；SVM>1，頻閃可見。佛山高速采樣光源頻閃測試儀推薦咨詢