VR測量儀是基于虛擬現實（VR）技術構建的智能化測量系統，通過集成光學成像、深度感知、三維建模等技術，實現對物理對象的高精度數字化測量與虛擬重構。其原理是利用雙目立體視覺模擬人類雙眼視差，結合結構光投射、激光掃描或ToF（飛行時間）傳感器獲取物體表面的三維坐標數據，再通過算法構建1:1比例的虛擬模型，然后輸出幾何尺寸、空間位置、表面紋理等多維度測量結果。典型設備如基恩士VR-6000系列，可在0.1秒內完成80萬點的三維點云數據采集，分辨率達0.1微米，支持對復雜曲面、深腔結構、柔性物體的非接觸式測量。VR 測量借助先進傳感器，精確捕捉空間數據，為虛擬場景構建提供可靠尺寸依據 。上海AR測量儀修正

VR顯示模組的性能評估需兼顧靜態指標與動態環境適應性，這要求檢測設備具備多維度測量能力。基恩士VR-6000搭載的HDR掃描算法突破了傳統光學測量的限制，可同時處理高反光材質的鏡面反射與弱反光黑色材質的低對比度信號，動態范圍擴大至1000倍。瑞淀光學2025年推出的XRE-23鏡頭則針對AR/VR場景優化，不僅支持鏡片的模擬測量，還能通過151MP成像色度計實現亞像素級亮度與色彩捕捉，滿足頭顯對EYE-BOX均勻性的嚴苛要求。此外，虛像距測量儀VID-100通過自動對焦與距離校正技術，在米至無限遠范圍內實現±的測量精度，尤其適用于HUD抬頭顯示與AR眼鏡的虛像距離標定。這些技術的融合使檢測設備能夠覆蓋從實驗室研發到量產線品控的全生命周期需求。上海VID測試儀售后HUD 抬頭顯示虛像測量設備不斷升級，測量精度與穩定性明顯提升 。

在技術實現上，XR 光學測量融合了精密物理測量與仿真分析：一方面，借助激光干涉儀、共焦顯微鏡等設備對光學元件進行納米級面形檢測，利用光譜儀驗證鍍膜材料的波長響應特性；另一方面，通過 Zemax 等光學設計軟件模擬光路，預判像差與雜散光問題，并結合積分球、亮度計等實測設備，驗證光機模組在不同場景下的綜合性能（如 VR 的大視場角沉浸感、AR 的虛實融合清晰度）。此外，針對光學系統與攝像頭、傳感器的協同效率，還需通過眼動儀、環境光傳感器等進行跨系統聯動測試，確保交互精度與使用穩定性。

VR光學技術沿“傳統透鏡-菲涅爾透鏡-折疊光路”路徑升級，檢測重點隨技術迭代持續變化。傳統透鏡需關注曲面精度與色散控制，菲涅爾透鏡側重環帶結構均勻性與注塑工藝良率，而折疊光路（Pancake）方案因引入偏振片、半透半反膜等多層結構，檢測難點轉向光程誤差、偏振效率一致性及變焦機構可靠性。新興技術如液晶偏振全息、異構微透鏡陣列、多疊折返式自由曲面光學等，對檢測設備的納米級精度、復雜光路模擬能力提出更高要求。同時，VR顯示方案（Fast-LCD/MiniLED/硅基OLED/MicroLED）與光學系統的匹配性檢測亦至關重要，需通過光學仿真與實際佩戴測試平衡畫質、功耗與體積，推動硬件輕薄化與成本下降。VR 近眼顯示測試關注設備兼容性，適配多種硬件與軟件 。

AR光學因需實現虛擬與現實融合，檢測邏輯與VR存在明顯的差異。其方案如光波導、自由曲面棱鏡等，需重點檢測透光率、眼動追蹤精度、環境光干擾抑制能力，以及雙目視差校準的一致性。以HoloLens為例，光學成本占比達47%，檢測需覆蓋微米級波導紋路精度、衍射效率均勻性，以及攝像頭與光學系統的空間坐標系校準。此外，AR頭顯的輕量化設計（如單目/雙目配置、分體式結構）對光學元件的小型化與集成度提出挑戰，檢測需兼顧微型化元件的表面缺陷（如亞微米級劃痕）與整體光路的像差控制，確保在工業巡檢、教育交互等場景中實現精確虛實疊加。新型虛像距測量系統結構簡單，測量速度快，精度有保障 。VR光學測試儀代理

AR 測量的量角器功能，精確測量各種角度，滿足專業需求 。上海AR測量儀修正

虛像距測量主要依賴三大技術路徑：幾何光學法：通過輔助透鏡構建等效光路，將虛像轉換為實像后測量。例如，測量凹透鏡的虛像距時，可在其后方放置凸透鏡，使發散光線匯聚成實像，再通過物距像距公式反推原虛像位置。物理光學法：利用干涉儀、全息術等手段，通過分析光的波動特性間接測量虛像距。如邁克爾遜干涉儀可通過干涉條紋的偏移量計算光路變化，進而確定虛像的位置偏差。現代光電法：借助CCD/CMOS傳感器與圖像處理算法，實時捕捉光線分布并擬合虛像位置。例如，在AR光學檢測中，通過高速相機拍攝人眼觀察虛擬圖像時的角膜反射光斑，結合雙目視覺算法計算虛像距，實現非接觸式高精度測量（精度可達±50μm）。上海AR測量儀修正