包括：加載裝置，配置為將電子部件加載到測試盤中；測試室，包括配置為與電子器件中的每個緊密接觸以對電子部件中的每個進行測試的測試器；推動裝置，配置為朝向測試器推動安裝在測試盤上的電子部件中的每個；以及卸載裝置，配置為從測試盤上卸載在測試室中測試的電子部件中的每個，其中，推動裝置包括配置為將壓力傳遞至電子部件的壓板、設置在壓板的中心部分中以在水平方向上延伸的軌道、具有配置為與軌道接觸的下端部分的上匹配板、具有配置為與軌道接觸的上端部分的下匹配板、以及設置在上匹配板和下匹配板中以與電子部件接觸的多個推動器。本公開還提供一種測試分選機，該測試分選機還包括：第二軌道，設置在壓板的下端部分中，并與下匹配板的下端部分向下間隔開；以及第三軌道，設置在壓板的上端部分中，并與上匹配板的上端部分向上間隔開。本公開還提供一種測試分選機，其中，當電子部件以m×n矩陣形式安裝在測試盤上時，上匹配板和下匹配板中的每個都與具有m/×n矩陣形式的電子部件匹配，其中m是或更大的偶數，并且n是或更大的自然數。本公開還提供了一種測試分選機，其中，在軌道中形成有接合槽，以及在下匹配板的上端部分中設置有突出部。ic測試分選機的市場大嗎。天津ic測試分選機廠商

    處理器與微型計算機、相機和燈電性連接，燈是le燈。拍攝底座與沿方向布置的調節模塊的移動塊呈固定布置，當沿方向布置的調節模塊的移動塊滑動時，拍攝底座隨其移動，實現相機在方向上的位置調節，相機拍攝i芯片，并將拍攝到的畫面傳遞給處理器，處理器提取i芯片的特征，再傳遞給微型計算機，通過與微型計算機中預設的基準對比，實現對i芯片的定位，并由微型計算機控制控制件控制校正平臺結構調節i芯片的位置，le燈在相機拍攝時為相機補光，照亮i芯片，提高相機拍攝的清晰度。掃碼結構包括固定板、掃碼滑塊、掃碼器、光源和芯片放置平臺，掃碼滑塊與龍門焊件呈活動連接，固定板具有朝后的后端面，固定板的后端面的上端與掃碼滑塊呈固定布置，芯片放置平臺具有朝上的延伸板，延伸板與固定板的后端面的下端呈固定布置，固定板具有朝前的前端面，掃碼器與固定板的前端面的中端呈固定布置，光源與固定板的前端面的下端呈固定布置；掃碼器具有朝下的掃描面，當i芯片放入芯片放置平臺，掃碼器的掃描面與i芯片呈正對布置。掃碼結構還包括四控制件。四控制件分別與微型計算機、掃碼器和光源呈電性連接。當i芯片放置在芯片放置平臺上后。湖北半導體測試分選機商家全自動測試分選機的作用以及市場價值！

    中的參考標志“”指示中的下匹配板的上端的豎直位置。參照和，可注意到的是，在本實施方式中，接合槽的前側在支架的情況下打開，并且第二接合槽的前側在第二支架的情況下閉合。在另一個修改中，支架的接合槽的前側可以閉合，并且第二支架的第二接合槽的前側可打開。可替代地，全部接合槽和都可以打開，或者全部接合槽和都可以閉合。如所示，當在支架和支架的部分之中的、接合槽和接合槽的引導部分-和-的進入部分聯接至下匹配板時，第二接合槽的前側閉合，使得閉合的部分用作一種加強表面，這從聯接部分強度的角度來說可以是有利的。以上描述在從另一側朝向一側(即，在x方向上)安裝下匹配板的前提下進行。然而，在另一修改中，可從一側朝向另一側(即，在-x方向上)安裝下匹配板。在這種情況下，與相反，接合槽可向左打開，并且可在左側與外部連通，并且第二接合槽可向右打開，并且可在右側與外部連通。另外，支架和支架的安裝位置和突出程度以及銷和第二銷的突出程度可與以上所述相對。是示出了根據所示的、一個實施方式的測試分選機的壓板的、從前側觀察的視。是解釋根據所示的、一個實施方式的測試分選機中的、軸和軸與壓板的連接結構的視。如和所示。

    檢測探頭檢測i芯片的燒錄狀態。第三控制件與微型計算機呈電性連接。當位置調節模塊調節至離子風機處于i芯片的正上方時，第三控制件控制離子風機i芯片上的靜電，檢測探頭具有朝向校正平臺結構的探頭平面，當位置調節模塊調節至檢測探頭的探頭平面與校正平臺結構呈正對布置時，檢測探頭檢測i芯片的燒錄狀態，在i芯片進行燒錄之前，通過離子風機對i芯片的表面吹離子風，達到去除i芯片表面上的靜電的目的，提高了i芯片燒錄的成功率，提高了產品的合格率，通過檢測探頭對i芯片燒錄狀態的檢測，并將檢測結果通過第三控制件反饋給微型計算機，由微型計算機或者操作人員判斷i芯片的燒錄質量，提高了生產效率和檢測的效率。位置調節模塊設有呈豎直布置的延伸板，延伸板與位置調節模塊呈固定布置，延伸板具有背離檢測探頭的左側面，離子風機固定在延伸板的左側面上，延伸板具有背離左側面的右側面，沿延伸板的左側面至右側面的方向，離子風機呈朝下傾斜布置。沿延伸板的左側面至右側面的方向，離子風機呈朝下傾斜布置，當離子風機朝向i芯片時。由于離子風機呈朝下傾斜布置，離子風機吹出的離子風也沿著朝下傾斜的方向流動，使得離子風吹到i芯片表面時會從一個方向流走。通用型測試分選機換芯片要換燒錄器嗎？

    深圳市金創圖電子設備有限公司是一家集研發、銷售、生產和服務于一體的電子制造領域的自動化設備制造企業，工廠面各10000平方，公司主要生產IC燒錄機/測試機，在燒錄測試領域10多年的豐富經驗，公司主要產品有全自動KA3000機型、KA2000機型、KU4000機型、1213D機型、KA42-2000機型等，在知識產權方面，已經取得了多項國家專利技術證書。公司自主研發，走品牌路線的企業發展模式，堅持已客戶和市場需求為導向，圍繞客戶和市場需求持續改善，合作共贏。拓展APP+物聯網，設備租賃等模式，實現客戶、團隊和個人的共同發展。多個燒錄結構使得一個工作人員可以同時操作多個i芯片的燒錄過程，實現多工位操作，提高了設備的工作效率，降低了企業的生產成本。為了使的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具實施例用以解釋，并不用于限定。以下結合具實施例對的實現進行詳細的描述。本實施例的附圖中相同或相似的標號對應相同或相似的部件；在的描述中，需要理解的是，若有術語“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或位置關系為基于附圖所示的方位或位置關系，是為了便于描述和簡化描述。通用測試分選機支持的芯片種類有多少。天津ic測試分選機廠商

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    當球與匹配板和匹配板的狹槽和狹槽匹配時，球可向前突出，并且可部分地進入狹槽和狹槽中。球塞向前壓匹配板和匹配板，同時保持球部分地插入狹槽和狹槽中。因而，可防止匹配板和匹配板被向前、向左和向右去除。下文中，將基于所示的修改并參照至描述下匹配板的安裝過程。首先參照，下匹配板可在x方向上移動的同時安裝在壓板的前表面上。隨著下匹配板在x方向上移動，銷可開始插入接合槽的引導部分-中，并且第二銷可開始插入第二接合槽的第二引導部分-中。在該狀態下，下匹配板可在豎直方向上與軌道間隔開。接著參照，隨著下匹配板繼續在x方向上移動，銷可定位在接合槽的引導部分-中，并且第二銷可定位在第二接合槽的第二引導部分-中。此時，由于下匹配板在x方向上的移動以及引導部分-和引導部分-的傾斜，下匹配板可逐漸向上移動，并且可靠近軌道。中表示出的參考標志“”指示中的下匹配板的上端的豎直位置。后參照，隨著下匹配板繼續在x方向上移動，銷可定位在接合槽的安置部分-中，并且第二銷可定位在第二接合槽的第二安置部分-中。在該狀態下，下匹配板的上端部分可與軌道接觸。因而，軌道可抑制下匹配板的上端部分的熱變形。天津ic測試分選機廠商