填充膠是一種高流動性，高純度的單組份環氧樹脂灌封材料。由于環氧樹脂的化學特性使其在加熱固化后呈現玻璃體特性，硬度較高，采取一般的方式進行返修作業很容易造成焊盤脫落、PCB變形或損壞BGA。底部填充膠除起加固作用外，還有防止濕氣、離子遷移的作用，因此絕緣電阻也是底部填充膠需考慮的一個性能。底部填充膠是增強BGA組裝可靠性的重要輔料，選擇底部填充膠的好壞對產品可靠性有很大影響。底部填充膠填充，通常實施方法有操作人員的手動填充和機器的自動填充，無論是手動和自動，一定需要借助于膠水噴涂控制器，其兩大參數為噴涂氣壓和噴涂時間設定。底部填充膠固化之后可以起到緩和溫度沖擊及吸收內部應力，一般補強BGA與基板連接的作用。三明RFID芯片封裝膠水廠家

PCBA元件底部填充膠的選用要求：PCBA上，在BGA器件與PCB基板間形成高質量的填充和灌封底部填充膠的品質與性能至為重要。首先我們需要了解底部填充膠的基本特性：用于BGA/CSP等器件的底部填充膠，是以單組份環氧樹脂為主體的液態熱固膠粘劑，有時在樹脂中添加增韌改性劑，是為了改良環氧樹脂柔韌性不足的弱點。底部填充膠的熱膨脹系數（CTE）﹑玻璃轉化溫度（Tg）以及模量系數（Modulus）等特性參數，需要與PCB基材、器件的芯片和焊料合金等相匹配。底部填充膠的通常膠水的Tg的點對CTE影響巨大，溫度低于Tg的點時CTE較小，反之CTE劇烈增加。模量系數的本義是指物質的應力與應變之比，膠水模量是膠水固化性能的重要參數，通常模量較高表示膠水粘接強度與硬度較好，但同時膠水固化時殘留的應力會較大。天津固定芯片用什么膠價格一般底部填充膠還能很好的減少焊接點的應力，將應力均勻分散在芯片的界面上。

填充膠在芯片封裝中的應用：電子產品的小型化和多功能化發展,促進了倒裝芯片中球柵陣列(BGA)和芯片尺寸封裝(CSP)的迅速發展,底部填充膠因能夠有效保護其芯片焊接質量而得到較為普遍的應用.在常用工藝中底部填充膠通過毛細現象滲透芯片底部,并加熱使其固化.底部填充膠的使用使得芯片在受到機械作用和熱循環作用時其焊點處所受的應力通過周圍的膠體有效地得以分散和降低,避免了不良焊點的產生.能夠實際使用的底部填充膠具有快速流動,快速固化,長使用壽命,長儲存壽命,高粘接強度和低模量的基本特點.出于降低成本的目的,為了因避免廢品的產生導致整個電路板的報廢,對底部填充膠的可返修性的要求與日俱增.目前使用的可返修型的底部填充膠在高溫時軟化,可通過機械摩擦的方法從電路板擦除.底部填充膠已經成為電子行業中不可或缺的重要材料,且伴隨著電子行業的發展要求對于其性能也在進行著不斷地提高和改進。

填充膠除起加固作用外，還有防止濕氣、離子遷移的作用，因此絕緣電阻也是底部填充膠需考慮的一個性能。將刻有不同刻度的載玻片疊在PCB板的上方，中間使用50um的墊紙，使載玻片與PCB間留有間隙，在載玻片一端點一定量膠水，測試膠水流動不同長度所需的時間。由于膠水流動性將隨溫度變化而變化，因此，此實驗可在加熱平臺上進行，通過設置不同溫度，測試不同溫度下膠水流動性。將CSP（BGA）包的底部和頂部位置先預熱1分鐘，加熱到200-300°C時，焊料開始融化，現在可以移除邊緣已經軟化的底部填充膠，取出BGA。如果不能順利拿出，可以用鑷子輕輕的撬動BGA四周，使其松動，然后取出。底部填充膠一般能夠通過創新型毛細作用在CSP和BGA芯片的底部進行填充。

助焊劑殘渣或其他污染源也可能通過多種途徑產生空洞，由過量助焊劑殘渣引起的沾污常常會造成不規則的隨機的膠流動的變化，特別是互連凸點處。如果因膠流動而產生的空洞具有這種特性，那么需要慎重地對清潔處理或污染源進行研究。 底部填充膠在某些情況下，在底部填充膠（underfill）固化后助焊劑沾污會在施膠面相對的芯片面上以一連串小氣泡的形式出現。顯然，底部填充膠（underfill）流動時將助焊劑推送到芯片的遠端位置。 空洞分析策略： 先確定空洞產生于固化前還是固化后，有助于分析空洞的產生原因。 如果空洞在固化后出現，可以排除流動型空洞或由流體膠中氣泡引起的空洞兩種產生根源。可以重點尋找水氣問題和沾污問題，固化過程中氣體釋放源問題或者固化曲線問題。 如果空洞在固化前或固化后呈現出的特性完全一致，這將清晰地表明某些底部填充膠(underfill）在流動時產生空洞：他們會形成一種流動阻塞效應，然后在固化過程中又會釋放氣體。底部填充膠一般用于CSP/BGA的底部填充。佛山移動刷卡機芯片填充膠公司

一般底部填充膠的基本特性與選用要求有哪些？三明RFID芯片封裝膠水廠家

如何選擇合適的底部填充膠？底部填充膠是增強BGA組裝可靠性的重要輔料，底部填充膠選擇底部填充膠的好壞對產品可靠性有很大影響。而實際應用中，不同企業由于生產工藝、產品使用環境等差異，對底部填充膠的各性能需求將存在一定的差異，如何選擇適合自己產品的底部填充膠， 熱膨脹系數（CTE）：焊點的壽命主要取決于芯片、PCB和底部填充膠之間的CTE匹配，理論上熱循環應力是CTE、彈性模量E和溫度變化的函數。但根據實驗統計分析顯示CTE1是主要的影響因素。由于CTE2與CTE1相關性很強，不管溫度在Tg的點以下還是Tg的點以上，CTE2都會隨著CTE1增加而增加，因此CTE2也是關鍵因素。三明RFID芯片封裝膠水廠家