底部填充膠的主要作用就是進行底部填充，主要成分還是以環氧樹脂，通過環氧樹脂做成的底部填充膠然后對BGA/CSP/PCBA等進行填充，利用其加熱固化的條件，讓其對芯片底部的空隙填滿，達到一個加固芯片的功能，增強芯片的穩定性。除此之外，底部填充膠對電子芯片還有防水防潮的作用，延長電子元器件的壽命。給需要裝配的元器件提供了一個更好的保障性。而且可以減低焊接點的應力，能夠有效減少因為熱膨脹系數不同所產生的應力沖擊。底部填充膠一般粘度比較低，加熱后可以快速固化，而且加熱后易返修，高可靠性，完全適用于芯片等小元器件的表面封裝以及保護。底部填充膠一般可兼容大多數的無鉛和無錫焊膏，可進行返修操作，具有優良的電氣性能和機械性能。山西耐高溫底部填充膠廠家

底部填充膠固化環節，需要再經過高溫烘烤以加速環氧樹脂的固化時間，固化條件需要根據填充物的特性來選取合適的底部填充膠產品。對于固化效果的判定，有基于經驗的，也有較為專業的手法。經驗類的手法就是直接打開底部填充后的元器件，用尖頭鑷子進行感覺測試，如果固化后仍然呈軟態，則固化效果堪憂。另外有一個專業手法鑒定，鑒定方法為“差熱分析法”這需要到專業實驗室進行鑒定。底部填充膠一般利用加熱的固化形式，將BGA芯片底部空隙大面積填滿，從而達到加固芯片的目的。云南bga點膠底部填充膠與錫膏是否兼容，是底部填充膠選擇與評估時需要重點關注的項目。

底部填充膠空洞檢測方法：Underfill底部填充膠空洞檢測的方法。主要有三種：1利用玻璃芯片或基板：直觀檢測，提供即時反饋，缺點在于玻璃器件上底部填充膠(underfill)的流動和空洞的形成行與實際的器件相比可能有些細微的偏差。2超聲成像和制作芯片剖面：超聲聲學成像是一種強有力的工具，它的空洞尺寸的檢測限制取決于封裝的形式和所使用的儀器；3將芯片剝離的破壞性試驗：采用截面鋸斷，或將芯片或封裝從下underfill底部填充膠上剝離的方法，有助于更好地了解空洞的三維形狀和位置，缺點在于它不適用于還未固化的器件。

當使用Undefill以后，同樣芯片的跌落測試表現比不使用Underfill將近提高了100倍。我們再來看看冷熱沖擊可靠性，我們通過測試接觸阻抗來看焊點是否有被完好保護起來。在零下40—150度的溫度環境當中，我們可以看到使用Undefill材料的芯片在經過4000個cycle沖擊以后，沒有發生任何阻抗的變化，也就是說焊點有被Underfill很好的保護起來。其實我們剛剛已經提到了，一般來說，Undefill的使用工藝是在錫膏回流工藝之后，當完成回流以后我們就可以開始Undefill的施膠了。施膠方式有兩種，一種是噴涂的方式，還有一種是采用氣壓式單針頭點膠的方式。相對來說我們比較推薦使用噴涂的方式，因為噴涂方式效率比較高，對精度的控制也比較好。在完成施膠以后，通過加熱，我們可以固化Undefill材料，得到產品。底部填充膠填充間隙小，填充速度快，能在較低的加熱溫度下快速固化。

快速流動可低溫固化的底部填充膠粘劑,包括中心層貝殼層結構的環氧樹脂20～50份,固化劑10～30份,潛伏型固化促進劑5～15份,填料10～30份,表面活性劑為0.01～1.5份,偶聯劑1～2份,所述中心層為高溫固化胺基化合物,所述貝殼層為低溫固化環氧化合物,所述高溫固化胺基化合物的玻璃化轉變溫度高于所述低溫固化環氧化合物的玻璃化轉變溫度.底部填充膠粘劑具有容易可返修的特點,加熱除膠時可以使用更低溫度,降低對主板和元器件的熱損傷,受熱時更容易從主板和元器件上脫落,從而具有優良的可返修效果,返修報廢率低。底部填充膠一般用于CSP/BGA的底部填充。云浮低收縮力晶線包封膠供應商

底部填充膠工藝流程分為四步驟，烘烤、預熱、點膠、固化、檢驗。山西耐高溫底部填充膠廠家

由于線路板的價值較高，線路板組裝完成后對整板的測試過程如果發現芯片不良的話就要對芯片進行返修，這就要求底部填充膠水具有可返修性。芯片返修的步驟為：清理芯片四周膠水- 卸去芯片- 清理殘膠。將返修板放置在返修平臺上，用熱風槍加熱芯片表面到100～150℃，熱風槍與芯片表面距離約3～5 mm。用牙簽或鑷子去除芯片四周的膠水。膠水除去后用熱風槍加熱芯片表面到220℃以上，加熱時間小于1 min，以免對主板造成傷害。待錫球融化后用鑷子將芯片拆除，用烙鐵加吸錫帶將殘留在電路板表面的殘錫去掉。再將熱風槍溫度調到100～150℃，用鑷子清理殘膠。為了保護主板，整個返修過程時間越短越好。山西耐高溫底部填充膠廠家