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告別毫歐級(jí)電流測(cè)量誤差! 業(yè)展電子合金采樣電阻+開(kāi)爾文四線法
工程師朋友們，您是否在測(cè)量低阻值(如<500mΩ) 合金采樣電阻(錳銅、卡瑪?shù)?的電流時(shí)，常遇到這些困擾?
· 毫伏級(jí)壓降測(cè)不準(zhǔn)? 低阻值電阻(例如1mΩ)在10A電流下壓降*10mV, 微小誤差即導(dǎo)致電流計(jì)算偏差。
· 導(dǎo)線電阻與接觸電阻干擾大? 傳統(tǒng)兩線法將導(dǎo)線電阻、接觸點(diǎn)電阻統(tǒng)統(tǒng)計(jì)入測(cè)量結(jié)果，引入***誤差。
· 結(jié)果漂移不穩(wěn)定? 溫度變化、連接松動(dòng)導(dǎo)致的導(dǎo)線/接觸電阻變化，讓測(cè)量值難以信賴(lài)。
這些痛點(diǎn)，直接影響系統(tǒng)控制精度、電池管理、過(guò)流保護(hù)等關(guān)鍵功能的可靠性!
業(yè)展電子推薦：開(kāi)爾文四線連接法——高精度電流測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)答案
開(kāi)爾文四線法(四端測(cè)量)通過(guò)物理分離電流激勵(lì)與電壓測(cè)量路徑，從根本上消除導(dǎo)線電阻和接觸電阻對(duì)測(cè)量精度 的影響，是測(cè)量低阻值電阻壓降(進(jìn)而計(jì)算電流)的理想選擇。
**優(yōu)勢(shì)：分離路徑，消除干擾
圖1:開(kāi)爾文四線連接原理圖- 電流回路(標(biāo)紅色)與電壓檢測(cè)回路(標(biāo)藍(lán)色)物理分離，確保測(cè)量電壓*反映電阻本身壓降
為何選擇業(yè)展電子合金采樣電阻?專(zhuān)業(yè)解決方案，助力開(kāi)爾文四線法，發(fā)揮***效能
開(kāi)爾文四線法消除了外部連接誤差，而電阻本身的設(shè)計(jì)、制造與貼裝精度同樣至關(guān)重要。業(yè)展電子專(zhuān)為高精度電流 檢測(cè)設(shè)計(jì)的四端子合金采樣電阻系列，是您的理想搭檔：
業(yè)展電子四端子采樣電阻系列產(chǎn)品圖
圖2:業(yè)展電子專(zhuān)業(yè)四端子合金采樣電阻系列 (YLRF,SBB,SBBP,USR,FHRP), 獨(dú)特四端子結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，有效應(yīng)對(duì)高精度測(cè)量挑戰(zhàn)
業(yè)展電子四端子電阻的**優(yōu)勢(shì)
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