半導體制造是一個極其精密的過程，對產品質量的要求近乎苛刻，AOI在其中起著關鍵的質量把控作用。在芯片制造的光刻、蝕刻、封裝等多個環節，都離不開AOI的檢測。在光刻環節，AOI可以檢測光刻圖案的精度，確保芯片上的電路布局符合設計要求。蝕刻后，AOI能夠檢測芯片表面的蝕刻質量，發現是否存在殘留的光刻膠或蝕刻過度、不足等問題。在封裝階段，AOI則用于檢測芯片引腳的焊接質量、封裝體是否存在裂縫等。由于半導體芯片的尺寸越來越小，集成度越來越高，哪怕是微小的缺陷都可能導致芯片失效，因此AOI的高精度檢測能力對于半導體行業的發展至關重要。AOI電動軌道調寬快速適應PCBA尺寸，無需手動調節，提升換型效率，縮短準備時間。金手指FPC智能外觀檢測AVI

AOI 的不良維修引導功能為產線優化提供便利，愛為視 SM510 可選配光束引導模塊，當檢測到不良品時，系統通過光束定位缺陷位置，維修人員無需逐一審視 PCBA 即可快速找到問題點。例如，在檢測到某焊點虛焊時，設備通過光束照射該焊點區域，配合軟件界面的缺陷標注，維修效率提升 50% 以上。這種可視化引導不降低了對維修人員經驗的依賴，還減少了因人工查找缺陷導致的 PCBA 損傷風險，尤其適合高密度集成的精密板卡維修。AOI 智能判定通過深度神經網絡分析圖像，減少人工干預，提升檢測一致性與客觀性。歐姆龍 aoiAOI具備AI極速編程，新機種程序5-20分鐘完成，操作極簡，打開系統自動建模識別。

AOI 的圖像存儲與檢索功能是追溯性的重要保障，愛為視 SM510 配備 8T 機械硬盤，可存儲數百萬張高清檢測圖像，并支持按時間、機型、缺陷類型等多維條件快速檢索。在客戶投訴或質量審計場景中，工程師可迅速調取對應 PCBA 的原始檢測圖像，對比設計文件與實際檢測結果，明確缺陷責任歸屬。例如，某批次產品在客戶端出現虛焊問題，通過檢索設備記錄，可確認該缺陷在爐后檢測中已被識別但未被有效攔截，進而追溯至維修環節的疏漏，為改進措施提供實證依據。

AOI 的程序制作效率是多機種生產的關鍵，愛為視 SM510 支持 “極速建?！?流程：打開系統→新建模板→自動建模→啟動識別，全程無需復雜參數設置。對于新機種，程序制作需 5-20 分鐘，相比傳統 AOI 的數小時調試大幅縮短時間。這種極簡操作模式尤其適合小批量、多品種的柔性生產場景，例如電子廠同時生產 4 種不同機型時，設備可自動調用對應程序，實現快速換線，提升產線靈活性。AOI 操作流程極簡，新建模板至啟動識別四步，提升易用性，適合大規模生產應用。AOI支持遠程操控與集中復判，同一電腦可管理多車間設備，維修站遠程復判提效。

AOI 的智能學習進化能力確保設備長期保持檢測水平，愛為視 SM510 支持在線增量學習，系統可自動收集生產過程中出現的新類型缺陷圖像，定期對深度學習模型進行迭代優化。例如，當新型封裝元件（如 Flip Chip 倒裝芯片）引入產線時，工程師只需標注少量樣本，設備即可通過遷移學習快速掌握該元件的檢測規則，無需重新進行大規模數據訓練。這種持續進化能力使設備能夠適應電子行業快速更新的元件技術與工藝，延長設備的技術生命周期，避免因工藝變革導致的設備淘汰。AOI支持4種機種共線生產，程序自動調用，適應多機種切換，提升產線靈活性。福建在線AOI編程

AOI獨特鏈條優化光源角度，結合數百萬樣本訓練，場景適應廣、誤報少、檢出率高。金手指FPC智能外觀檢測AVI

AOI 的多維度報表功能為管理層提供決策依據，愛為視 SM510 可生成缺陷柏拉圖、趨勢控制圖、設備稼動率報表等 10 余種可視化報告，支持按日、周、月維度自動匯總數據。例如，通過柏拉圖分析可直觀顯示當月大主要缺陷（如連錫占 45%、偏移占 30%、缺件占 15%），幫助企業聚焦重點改善方向；趨勢控制圖則可追蹤關鍵工藝參數（如檢測通過率）的波動情況，及時發現潛在的質量隱患。這些報表不可通過本地顯示器查看，還能自動發送至管理層郵箱，便于遠程掌握產線運行狀態。金手指FPC智能外觀檢測AVI