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深圳市芯技科技有限公司2025-06-28
電參數測試：VR=0.8×VZ時IR>10μA（標稱<1μA），芯技提供老化測試閾值
外觀檢測：封裝開裂/變色，芯技X光檢測空洞率>5%判失效
熱成像定位：通電后ΔT>20℃（正常<5℃），芯技IR報告標注熱點
本回答由 深圳市芯技科技有限公司 提供
深圳市芯技科技有限公司
聯系人： 黃總
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