深圳市泰克光電科技有限公司2024-11-13

深圳市泰克光電科技有限公司的12寸IC探針臺半導體晶圓點測機適用于半導體芯片的測試和研發領域。它可以用于對12英寸晶圓以及4mm x 4mm以上的單個DIE進行測試，能夠滿足不同尺寸芯片的測試需求。該設備具有高精度的位置測量和運動控制能力，能夠對芯片的電性能進行準確的測量和分析，幫助研發人員提高芯片的質量和性能。

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