管式爐在碳化硅（SiC）和氮化鎵（GaN）制造中面臨高溫（1500℃以上）和強(qiáng)腐蝕氣氛（如HCl）的挑戰(zhàn)。以SiC外延為例，需采用石墨加熱元件和碳化硅涂層石英管，耐受1600℃高溫和HCl氣體腐蝕。工藝參數(shù)為：溫度1500℃-1600℃，壓力50-100Torr，硅源為硅烷（SiH?），碳源為丙烷（C?H?），生長(zhǎng)速率1-2μm/h。對(duì)于GaN基LED制造，管式爐需在1050℃下進(jìn)行p型摻雜（Mg源為Cp?Mg），并通過(guò)氨氣（NH?）流量控制（500-2000sccm）實(shí)現(xiàn)載流子濃度（101?cm?3）的精確調(diào)控。采用遠(yuǎn)程等離子體源（RPS）可將Mg***效率提升至90%以上，相比傳統(tǒng)退火工藝明顯降低能耗。多種規(guī)格可選，滿(mǎn)足不同半導(dǎo)體工藝需求，歡迎聯(lián)系獲取定制方案！安徽賽瑞達(dá)管式爐BCL3擴(kuò)散爐

管式爐參與的工藝與光刻工藝之間就存在著極為緊密的聯(lián)系。光刻工藝的主要作用是在硅片表面確定芯片的電路圖案，它為后續(xù)的一系列工藝提供了精確的圖形基礎(chǔ)。而在光刻工藝完成之后，硅片通常會(huì)進(jìn)入管式爐進(jìn)行氧化或擴(kuò)散等工藝。以氧化工藝為例，光刻確定的電路圖案需要在硅片表面生長(zhǎng)出高質(zhì)量的二氧化硅絕緣層來(lái)進(jìn)行保護(hù)，同時(shí)這層絕緣層也為后續(xù)工藝提供了基礎(chǔ)條件。在這個(gè)過(guò)程中，管式爐與光刻工藝的銜接需要高度精確地控制硅片的傳輸過(guò)程，以避免硅片表面已經(jīng)形成的光刻圖案受到任何損傷。安徽一體化管式爐氧化爐節(jié)能環(huán)保設(shè)計(jì)融入管式爐產(chǎn)品理念。

退火是半導(dǎo)體制造中不可或缺的工藝，管式爐在其中表現(xiàn)出色。高溫處理能夠修復(fù)晶格損傷、摻雜劑，并降低薄膜應(yīng)力。離子注入后的退火操作尤為關(guān)鍵，可修復(fù)離子注入造成的晶格損傷并摻雜原子。盡管快速熱退火（RTA）應(yīng)用單位廣，但管式爐在特定需求下，仍能提供穩(wěn)定且精確的退火環(huán)境，滿(mǎn)足不同工藝對(duì)退火的嚴(yán)格要求?；瘜W(xué)氣相沉積（CVD）是管式爐另一重要應(yīng)用領(lǐng)域。在爐管內(nèi)通入反應(yīng)氣體，高溫促使反應(yīng)氣體在晶圓表面發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，進(jìn)而沉積形成薄膜。早期，多晶硅、氮化硅、二氧化硅等關(guān)鍵薄膜的沉積常借助管式爐完成。即便如今部分被單片式 CVD 取代，但在對(duì)薄膜均勻性要求極高、需大批量沉積特定薄膜，如厚氧化層時(shí)，管式爐 CVD 憑借其均勻性?xún)?yōu)勢(shì)，依舊在半導(dǎo)體制造中占據(jù)重要地位。

外延生長(zhǎng)是在半導(dǎo)體襯底上生長(zhǎng)出一層具有特定晶體結(jié)構(gòu)和電學(xué)性能外延層的關(guān)鍵工藝，對(duì)于制造高性能的半導(dǎo)體器件，如集成電路、光電器件等起著決定性作用，而管式爐則是外延生長(zhǎng)工藝的關(guān)鍵支撐設(shè)備。在管式爐內(nèi)部，通入含有外延生長(zhǎng)所需元素的氣態(tài)源物質(zhì)，以硅外延生長(zhǎng)為例，通常會(huì)通入硅烷。管式爐能夠營(yíng)造出精確且穩(wěn)定的溫度場(chǎng)，這對(duì)于確保外延生長(zhǎng)過(guò)程中原子的沉積速率和生長(zhǎng)方向的一致性至關(guān)重要。精確的溫度控制直接決定了外延層的質(zhì)量和厚度均勻性。如果溫度波動(dòng)過(guò)大，可能導(dǎo)致外延層生長(zhǎng)速率不穩(wěn)定，出現(xiàn)厚度不均勻的情況，進(jìn)而影響半導(dǎo)體器件的電學(xué)性能。管式爐支持惰性氣體保護(hù)，防止材料氧化，提升產(chǎn)品質(zhì)量，點(diǎn)擊了解！

在半導(dǎo)體芯片進(jìn)行封裝之前，需要對(duì)芯片進(jìn)行一系列精細(xì)處理，管式爐在這一過(guò)程中發(fā)揮著重要作用，能夠明顯提升芯片封裝前處理的質(zhì)量。首先，精確的溫度控制和恰當(dāng)?shù)暮婵緯r(shí)間是管式爐的優(yōu)勢(shì)所在，通過(guò)合理設(shè)置這些參數(shù)，能夠有效去除芯片內(nèi)部的水汽等雜質(zhì)，防止在后續(xù)封裝過(guò)程中，因水汽殘留導(dǎo)致芯片出現(xiàn)腐蝕、短路等嚴(yán)重問(wèn)題，從而提高芯片的可靠性。例如，在一些芯片制造工藝中，將芯片放入管式爐內(nèi)，在特定溫度下烘烤一定時(shí)間，能夠使芯片內(nèi)部的水汽充分揮發(fā)，確保芯片在封裝后能夠長(zhǎng)期穩(wěn)定工作。其次，在部分芯片的預(yù)處理工藝中，退火處理是必不可少的環(huán)節(jié)，而管式爐則是實(shí)現(xiàn)這一工藝的理想設(shè)備。芯片在制造過(guò)程中，內(nèi)部會(huì)不可避免地產(chǎn)生內(nèi)部應(yīng)力，這些應(yīng)力可能會(huì)影響芯片的電學(xué)性能。管式爐結(jié)構(gòu)緊湊，占地面積小，適合實(shí)驗(yàn)室和小型生產(chǎn)線(xiàn)，立即獲取方案！安徽一體化管式爐氧化爐

管式爐超溫報(bào)警、自動(dòng)斷電等防護(hù)設(shè)計(jì)，部分設(shè)備采用節(jié)能材料降低能耗。安徽賽瑞達(dá)管式爐BCL3擴(kuò)散爐

碳化硅（SiC）和氮化鎵（GaN）等寬禁帶半導(dǎo)體的外延生長(zhǎng)依賴(lài)高溫管式爐。以SiC外延為例，需在1500°C–1600°C下通入硅源（如SiH?）和碳源（如C?H?），管式爐的石墨加熱器與碳化硅涂層石英管可耐受極端環(huán)境。關(guān)鍵挑戰(zhàn)在于控制生長(zhǎng)速率（1–10 μm/h）和缺陷密度（需<1×103 cm?2）。行業(yè)通過(guò)改進(jìn)氣體預(yù)混裝置和增加旋轉(zhuǎn)襯底托盤(pán)來(lái)提升均勻性。GaN-on-Si生長(zhǎng)則需氨氣（NH?）氛圍，管式爐的密封性直接影響晶體質(zhì)量，因此高純度氣體管路和真空鎖設(shè)計(jì)成為標(biāo)配。安徽賽瑞達(dá)管式爐BCL3擴(kuò)散爐