無損檢測中的微焦點X射線源原理：X射線是一種高能射線，對人體有害。因為有地球大氣層的保護，宇宙中的X射線都已被隔絕，自然的環境中則鮮有它的存在。總的來看，X射線穿透力極強，但物質對它的吸收程度卻各不相同。利用這一特性，X射線可以被用來探知物體內部的結構形狀甚至成份。如今它已被我們廣泛應用于醫療影像、安檢、工業無損檢測中。X射線管是人為來制造的X射線的重要工具。高速運動的電子在與物質相互作用下會產生X射線。在X射線管中，從陰極發射的電子，經陰極、陽極間的電場加速后，轟擊X射線管靶，將其動能傳遞給靶上的原子。其中約有1%左右的能量轉化為X射線，并從X射線照射窗中射出上海晶珂銷售愛比特FX-300tRX 的X射線立體方式檢測裝置，對基板芯片的焊錫部分缺陷檢測。江蘇微焦點X射線檢測

日本愛比特，i-bit  微焦點X射線檢測系統   3D自動X射線檢測   小型密閉管式X射線裝置,

達成幾何學倍率1,000倍!非CT方式,也非X光分層攝影法而是運用第三種檢查方式X射線立體方式.能夠節省檢查成本。

型號：FX-300fRXzwithc

搭載芯片計數功能!

依據X射線的穿透圖像數卷軸上的壓紋帶里面的電子零件“方形芯片‘的數量。

一個卷帶盤約30秒可完成計數。

傾斜CT功能,垂直CT功能(選配設定)將檢查對象工件放置在轉盤上做360°旋轉,取得圖像。

用專門軟件進行圖像重組,可輸出斷層圖像可使用VolumeRendering(立體渲染)軟件做3D輸出,也能輸出斷層動畫。

3D圖像資訊的重組,使用GraphicProcessingUnit*(圖像處理器)速度能夠達到以往的1/20。

影像處理用的處理器具有1000個以上,可以同時處理1000個以上的圖像 硅晶片結晶空隙X射線檢測哪里好i-bit 日本愛比特 X-ray X射線檢測 錫少、錫多、偏移、短路、空焊、虛焊、不沾錫、空洞。

檢測硅晶片結晶缺陷Void(空隙）全自動檢查裝置，自動檢查機能，VIID（焊錫氣泡）檢查錫橋檢查等。選我司銷售的微焦點X射線檢測系統，小型密閉管式X射線裝置,達成幾何學倍率1,000倍!非CT方式,也非X光分層攝影法而是運用第三種檢查方式X射線立體方式.能夠節省檢查成本幾何學倍率達到1000倍!搭載芯片計數功能!"X射線立體方式3D-X射線觀察裝置FX-3o0fRXzwithcT以往運用X射線的檢查方式,背面的CHIP(芯片)零件成為雜訊而很難做正確的檢查。l-Bit公司所開發的r3D-X射線立體方式能夠將背面基板貼裝的BGA,LGA,QFN等圖像刪除。與以往的X射線CT方式不同不需要斷層圖像所以能夠做高速處理特征采用X射線立體方式(愛比特公司的***技術)2幾何學倍率:達到1000倍3搭載CHIPCOUNTER(芯片計數)機能4運用光廣角照射能夠做高倍率傾斜攝影GBGA自動檢查機能(選配功能)VCT(垂直CT)PCT(傾斜CT)功能(選配功能)裝基板等的焊錫部位的檢查用途@LED的FLIPCHIP(倒裝芯片)裝的焊錫部位檢查POWERDEVICE(IGBT)的雙層焊錫部的Void(氣泡)檢查

    上海晶珂銷售的微焦點X射線檢測設備用于用于大型線路板上面的BGA、CSP、倒裝芯片檢測、半導體。。型號：FX-300fRXzwithcT用途：以往運用X射線的檢查方式,背面的CHIP(芯片)零件成為雜訊而很難做正確的檢查。l-Bit公司所開發的r3D-X射線立體方式能夠將背面基板貼裝的BGA,LGA,QFN等圖像刪除。與以往的X射線CT方式不同不需要斷層圖像所以能夠做高速處理型號：FX-300fRXzwithcT用途：以往運用X射線的檢查方式,背面的CHIP(芯片)零件成為雜訊而很難做正確的檢查。l-Bit公司所開發的r3D-X射線立體方式能夠將背面基板貼裝的BGA,LGA,QFN等圖像刪除。 上海晶珂銷售愛i-bit 的FX-300tR型號的X射線立體方式檢測裝置，對BGA的錫球和基板結合部分離檢測。

檢測基板焊點的焊錫不足、焊接不良、焊錫短路等問題，先上海晶珂機電設備有限公司銷售的日本微焦點X線檢測系統。X射線觀察裝置FX-3OOfR幾何學倍率:900倍熒光屏放大倍率:5400倍X射線輸出:90kVX射線焦點徑:5u,15u(切換)用幾何學倍率特征D隨然是小型設備但可達成幾何學倍率900倍2存儲良品的圖像,可以和現在的圖像做比較3可以將平板相機傾斜60°做觀察4即使做傾斜觀察也能自動追蹤觀察位置(即使相機傾斜位置點也不會偏移)5附帶有各種測定機能6可追加選項檢查機能選項功能可對應CT及L尺寸8靶材~試料0.5mm,靶材~X射線相機450mm:450/0.5=900,幾何學倍率達到900倍L尺寸裝置可對應600x600mm的基板i-bit 日本愛比特 X-ray 對雙面PCBA和FLIP CHIP焊點、BGA虛焊空焊枕窩、接插件通孔透錫不良。貴州愛比特X射線檢測

上海晶珂銷售的X-ray X射線檢測設備應用于電子元器件的內部結構檢測。江蘇微焦點X射線檢測

微焦點X射線檢測系統，日本愛比特，i-bitX-ray檢測系統3D-X射線立體方式觀察裝置

產品型號：LFX-1000

IC打線結合/導線架狀態自動檢查設備

概要:

可進行全自動檢查的在線式X射線檢查設備,針對IC內部的打線接合/導線架的狀態進行高速/高精度檢查

特征:

在導線架的狀態下進行自動搬運及自動檢查標注不良的部位。

不僅是打線結合的部位,也可以檢查金屬異物及導線架間隔等

導線架從進板機直接堆板設置或者是用抽換式基板收納架供料

可與各種上料機/下料機連接(為追加選配功能) 江蘇微焦點X射線檢測

上海晶珂機電設備有限公司位于浦錦路2049號萬科VMO, 37號216室。在市場經濟的浪潮中拼博和發展，目前上海晶珂機電在機械及行業設備中擁有較高的知名度，享有良好的聲譽。上海晶珂機電取得全網商盟認證，標志著我們的服務和管理水平達到了一個新的高度。上海晶珂機電全體員工愿與各界有識之士共同發展，共創美好未來。