原位x射線衍射，我想，應該是作為X射線衍射實驗的樣品，不要挪動位置、保持在原先的既定位置上，直接拿去進行X射線衍射測定。 這樣的要求，應該是針對那些要求獲取既和原始位置有關的（在原始位置中，某物質是處于何等晶格結構的？它和周圍其它物質的結合、相互作用怎么樣？等）、又與這一片材料物資本身的晶格結構有關的信息！而前者似乎更重要！ 比如，在納米材料制備和研究中，在超導材料的制備研究中，向某一主要基體材料中添加極微量的摻雜成分，要研究摻雜物分子、原子對基體分子、原子是如何發揮超導作用的，就需要了解由原位x射線衍射實驗測定獲得的實驗數據。X射線衍射儀機身小巧，將性能強大的軟件和改進的X射線探測器結合在一起使用，提高了檢測的速度和靈敏度。浙江奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀定制怎么樣

X射線衍射法是一種研究晶體結構的分析方法，而不是直接研究試樣內含有元素的種類及含量的方法。當X射線照射晶態結構時，將受到晶體點陣排列的不同原子或分子所衍射。X射線照射兩個晶面距為d的晶面時，受到晶面的反射，兩束反射X光程差2dsinθ使入射波長的整數倍時，即2dsinθ=nλ（n為整數），兩束光的相位一致，發生相長干涉，這種干涉現象稱為衍射，晶體對X射線的這種折射規則稱為布拉格規則。θ稱為衍射角（入射或衍射X射線與晶面間夾角）。n相當于相干波之間的位相差，n=1，2…時各稱0級、1級、2級……衍射線。反射級次不清楚時，均以n=1求d。晶面間距一般為物質的特有參數，對一個物質若能測定數個d及與其相對應的衍射線的相對強度，則能對物質進行鑒定。黃山衍射儀代理費用使用粉末多晶衍射儀測量單晶體樣品時得到的X射線衍射譜。

衍射出現在滿足布拉格條件的角度上，這可以理解。但是，X射線衍射是因為X射線與原子發生彈性碰撞，原子向四面八方散射頻率相同的X射線，書上講的衍射方向都是與入射方向夾角為2西塔，難道就不可能在其他方向上（即入射角和反射角不相等）恰好滿足布拉格條件嗎？恰好滿足布拉格條件的就是2θ方向。在其他方向上的也有，但都被許許多多散射光之間相互抵消、成為光強很弱甚至為0的圖案、成為觀測區域內的背景。X射線衍射儀特征X射線及其衍射X射線是一種波長很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發光、照相機乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產生X射線，它具有靶中元素相對應的特定波長，稱為特征X射線。如銅靶對應的X射線波長為0.154056 nm。X射線衍射儀的英文名稱是X-ray Powder diffractometer簡寫為XPD或XRD。有時會把它叫做x射線多晶體衍射儀，英文名稱為X-ray polycrystalline diffractometer簡寫仍為XPD或XRD。

X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量分析.普遍應用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產等領域.X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質內部微觀結構的一種大型分析儀器，普遍應用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業。基本構造：X射線衍射儀的形式多種多樣, 用途各異, 但其基本構成很相似, X射線衍射儀的基本構造原理圖, 主要部件包括4部分。高穩定度X射線源　提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長, 調節陽極電壓可控制X射線源的強度。“x射線衍射儀"可分為"x射線粉末衍射儀"和"x射線單晶衍射儀器"。

衍射儀： x射線發生器 探測器 1衍射儀進展 衍射儀的進展主要在三個方面： 1、X 射線發生器，2、探測器，3、衍射幾何與光路。 x射線發生器 X射線發生器是進行X射線衍射實驗所不可缺少的、重要的設備之一，其優劣會嚴重影響X射線衍射數據的質量。 探測器 探測器是用來記錄衍射譜的，因而是多晶體衍射設備中不可或缺的重要部件之一。早先被普遍使用的是照相底片，由于它吸收率低，大量X射線會透過而不被吸收；它的計數線性范圍不大，強衍射不易測準；而且，還會起“霧”；又由于要有暗室用化學法進行顯影、定影、沖洗、曬干等一套繁瑣的過程，因此被性能更好的光子計數器所取代。計數器探測器不需化學處理，可以通過電子電路直接記錄衍射的光子數，方便了許多。初的計數器是蓋格計數器，但由于它的時間分辨率不高，計數的線性范圍不大，故不是一個良好的探測器。以后，正比計數器及閃爍計數器取代了蓋格計數器，成為普遍使用的探測器。隨著人類對自然的認識越來越廣，越來越深，對實驗的要求也越來越高，越多樣化，簡單的正比或閃爍計數器亦不 能滿足不同的實驗要求，于是又陸續發展出許多不同的探測器。衍射儀的選材要求是什么？上海澤權告訴您。江蘇衍射儀代理服務

產品在使用過程中出現斷裂、變形等失效現象，可能涉及微觀應力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應力。浙江奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀定制怎么樣

X射線衍射法，對樣品測試收費要遠高于紅外光譜的。如果你是單純想測量薄膜的精確厚度，可以用紅外光譜法（IR),精確度可達cm^(-1)量級。在紅外光譜范圍內，1000cm^(-1)=10μm,1cm^(-1)=0.01μm. 由于入射到膜的內外層表面的反射光達到一定相位差時會引起干涉，通過薄膜兩個表面對紅外線的透射-反射-反射光與一次透射光形成的干涉條紋。干涉條紋有三四十個波峰-波谷之多，分布在一定的波長范圍內；根據測定結果，利用公式計算出薄膜的厚度。該方法操作簡便,測定速度快,應用于實際樣品的無損測定,結果滿意。 浙江奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀定制怎么樣