x射線光電子能譜分析： x射線光電子能譜法（x-ray photoelectron spectrom-----xps）在表面分析領域中是一種嶄新的方法。雖然用x射線照射固體材料并測量由此引起的電子動能的分布早在本世紀初就有報道，但當時可達到的分辯率還不足以觀測到光電子能譜上的實際光峰。直到1958年，以siegbahn為首的一個瑞典研究小組觀測到光峰現象，并發現此方法可以用來研究元素的種類及其化學狀態，故而取名“化學分析光電子能譜（eletron spectroscopy for chemical analysis-esca）。目前xps和esca已公認為是同義詞而不再加以區別。X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定量分析。合肥衍射儀廠家

X射線衍射儀的X射線管有三種常見的類型：可拆式管——這種X射線管在動真空下工作，配有真空系統，使用時需抽真空使管內真空度達到10－5毫帕或更佳的真空度。不同元素的靶可以隨時更換，燈絲損壞后也可以更換。密封式管——這是常使用的X射線管，它的靶和燈絲密封在高真空的殼體內。殼體上有對X射線“透明”的X射線出射“窗口”——鈹窗口。這種管子使用方便，但靶和燈絲不能更換。若燈絲燒斷后管子也就報廢了，其壽命一般為1000—2000小時。轉靶式管——這種管采用一種特殊的運動結構以增強靶面的冷卻，即所謂旋轉陽極X射線管，是目前實用的強度高X射線發生裝置。管子的陽極設計成圓柱體形，柱面作為靶面，陽極需要用水冷卻。這種管的功率能遠遠超過前兩種管子。對于銅或鉬靶管，密封式管的額定功率，一般只能達到2kW－3kW，而轉靶式管高可達90KW。合肥衍射儀廠家新材料開發需要充分了解材料的晶格參數，使用XRD可快捷測試出點陣參數。

X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質中的衍射效應進行物質結構分析的技術。每一種結晶物質，都有其特定的晶體結構，包括點陣類型、晶面間距等參數，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質受激發，會產生二次熒光X射線（標識X射線），晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測定衍射角位置可以進行化合物的定性分析，測定譜線的積分強度可以進行定量分析，而測定譜線強度隨角度的變化關系可進行晶粒的大小和形狀的檢測。

x射線粉末衍射儀, 針對于測試樣品為粉末;x射線衍射儀 , 包括粉末衍射、單晶衍射、高溫衍射儀等等 !x射線衍射儀包含x射線粉末衍射儀!由于物質要形成比較大的單晶顆粒很困難.所以目前x射線粉末衍射技術是主流的x射線衍射分析技術.單晶衍射可以分析出物質分子內部的原子的空間結構.粉末衍射也可以分析出空間結構.但是大分子（比如蛋白質等）等復雜的很難分析.x射線粉末衍射可以:1,判斷物質是否為晶體.2,判斷是何種晶體物質.3,判斷物質的晶型.4,計算物質結構的應力.5,定量計算混合物質的比例.6,計算物質晶體結構數據.7,和其他專業相結合會有更普遍的用途.由于大量粒子散射波的疊加，互相干涉而產生大強度的光束稱為X射線的衍射線滿足衍射條件。

X射線衍射儀的主要參數：X射線管的功率：對于密封式X射線管，Cu靶一般為2kw，Ag、Mo、W等靶一般大于2kw，而對Co、Fe、Ni等靶則小于2kw。對于轉靶，常用的有12kw和18kw。單色器的效率：應不小于25%。探測器的效率：視品種而異。計數的線性范圍：關系到強度測量的準確性，一般在 cps。有許多儀器附加了校正軟件，宣稱可以達到 cps。衍射角(2θ)的測量準確度和精確度。分辨率：常用的Si(311)衍射峰的半高寬來表示。對于一般實驗室粉末衍射儀，此值約在0.05°~0.1°之間。X射線衍射儀是利用X射線衍射法對物質進行非破壞性分析的儀器。合肥衍射儀廠家

x射線粉末衍射可以定量計算混合物質的比例。合肥衍射儀廠家

X射線衍射儀工作原理是什么？ x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產生散射波，這些波互相干涉，結果就產生衍射。對于晶體材料，當待測晶體與入射束呈不同角度時，那些滿足布拉格衍射的晶面就會被檢測出來，體現在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強度的衍射峰。對于非晶體材料，由于其結構不存在晶體結構中原子排列的長程有序，只是在幾個原子范圍內存在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質的晶體結構，織構及應力，精確的進行物相分析，定性分析，定量分析。普遍應用于冶金，石油，化工，科研，教學，材料生產等領域。合肥衍射儀廠家