分析電子衍射與x射線衍射有何區別？相同點是兩者都是可以把晶體看做一個三維的光柵，對不同位置的原子散射的波進行疊加求和，反映的晶格的對稱性信息；不同點是電子衍射是電子受到在空間上周期性變化勢場的散射，電子與樣品的相互作用往往比x射線衍射與樣品作用要強烈一些，往往不止發生一次散射，即要考慮動力學效應，x射線是與核外電子發生作用，與核外的電子分布情況相關。實用角度的答案，在確定晶體對稱性上，通常是用x射線來定的，因為動力學效應很弱，不會出現本來消光的斑點位置因為多次散射的原因又出現亮斑的情況，因此便于分析，另外很重要的一個原因是x射線的制樣更加容易。X射線衍射儀的形式多種多樣, 用途各異, 但其基本構成很相似。銅陵衍射儀
將單色X射線照到晶體樣品上，若其中一個晶粒的一組晶面取向和入射X射線夾角為θ時，滿足衍射條件，則在衍射角2θ處產生衍射。樣品中有多個晶粒并滿足衍射。通過使用X射線衍射儀的探測器以一定的角度繞樣品旋轉，接收到粉晶中不同網面、不同取向的全部衍射線，獲得相應的衍射圖譜。通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息，要求所需樣品含量大于1%（樣品最低檢出限），分析樣品量區分粉末樣品和塊狀樣品。江蘇奧林巴斯BTX小型臺式XRD售價多少錢X-衍射儀主要用于單礦物及礦物結構測定。
X射線衍射儀的用途： （1）當材料由多種結晶成分組成，需區分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結晶相的比例。 （2）很多材料的性能由結晶程度決定，可使用XRD結晶度分析，確定材料的結晶程度。 （3）新材料開發需要充分了解材料的晶格參數，使用XRD可快捷測試出點陣參數，為新材料開發應用提供性能驗證指標。 （4）產品在使用過程中出現斷裂、變形等失效現象，可能涉及微觀應力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應力。 （5）納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數據。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。 X射線衍射儀使用注意事項： （1）固體樣品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必須平整，可以用幾塊粘貼一起。 （2）對于片狀、圓拄狀樣品會存在嚴重的擇優取向，衍射強度異常，需提供測試方向。 （3）對于測量金屬樣品的微觀應力（晶格畸變），測量殘余奧氏體，要求制備成金相樣品，并進行普通拋光或電解拋光，消除表面應變層。 （4）粉末樣品要求磨成320目的粒度，直徑約40微米，重量大于5g。
X射線同無線電波、可見光、紫外線等一樣,本質上都屬于電磁波,只是彼此之間占據不同的波長范圍而已。X射線的波長較短,大約在10-8～10-10cm之間。X射線分析儀器上通常使用的X射線源是X射線管,這是一種裝有陰陽極的真空封閉管（見圖1）,在管子兩極間加上高電壓,陰極就會發射出高速電子流撞擊金屬陽極靶,從而產生X射線。當X射線照射到晶體物質上,由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成,這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級,故由不同原子散射的X射線相互干涉,在某些特殊方向上產生強X射線衍射,衍射線在空間分布的方位和強度,與晶體結構密切相關不同的晶體物質具有自己獨特的衍射樣,這就是X射線衍射的基本原理。X射線衍射儀的用途是什么？
X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時,該物質被X射線照射產生不同程度的衍射現象,物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生特有的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優點。因此,X射線衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現代科學方法,已逐步在各學科研究和生產中廣泛應用。衍射儀去哪找？上海澤權告訴您。馬鞍山衍射儀品牌哪家好
X射線及其衍射X射線是一種波長很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質。銅陵衍射儀
X射線衍射分析的粉末樣品時的要求是什么? 粉末樣品的制備：雖然很多固體樣品本身已處于微晶狀態，但通常卻是較粗糙的粉末顆粒或是較大的集結塊，更多數的固體樣品則是具有或大或小晶粒的結晶織構或者是可以辨認出外形的粗晶粒，因此實驗時一般需要先加工成合用的細粉末。因為大多數固體顆粒是易碎的，所以常用的方法是研磨和過篩，只有當樣品是十分細的粉末，手摸無顆粒感，才可以認為晶粒的大小已符合要求。持續的在研缽或在球磨中研磨至<360 目的粉末，可以有效的得到足夠細的顆粒。制備粉末需根據不同的具體情況采用不同的方法。對于一些軟而不便研磨的物質（無機物或者有機物），可以用干冰或液態空氣冷卻至低溫，使之變脆，然后進行研磨。若樣品是一些具有不同硬度和晶癖的物質的混合物，研磨時較軟或易于解理的部分容易被粉化而包裹較硬部分的顆粒，因此需要不斷過篩，分出已粉化的部分，后把全部粉末充分混合后再制作實驗用的試樣。銅陵衍射儀