X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應(yīng)力,精確的進行物相分析,定性分析,定量分析.普遍應(yīng)用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學(xué),材料生產(chǎn)等領(lǐng)域.X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的一種大型分析儀器，普遍應(yīng)用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業(yè)。基本構(gòu)造　X射線衍射儀的形式多種多樣, 用途各異, 但其基本構(gòu)成很相似, X射線衍射儀的基本構(gòu)造原理圖, 主要部件包括4部分。高穩(wěn)定度X射線源　提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長, 調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強度。X射線衍射儀普遍應(yīng)用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業(yè)。安徽奧林巴斯BTX小型臺式XRD定制需要多少錢

X射線衍射儀技術(shù)(XRD)通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法，X射線衍射儀已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中普遍應(yīng)用。X射線衍射儀的原理：當(dāng)一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān),這就是X射線衍射的基本原理。鹽城衍射儀代理商價格分析電子衍射與x射線衍射有何區(qū)別？

X射線單晶體衍儀器基本公式： 由于晶體中原子是周期排列的，其周期性可用點陣表示。而一個三維點陣可簡單地用一個由八個相鄰點構(gòu)成的平行六面體（稱晶胞）在三維方向重復(fù)得到。一個晶胞形狀由它的三個邊（a,b,c）及它們間的夾角（γ，α，β）所規(guī)定，這六個參數(shù)稱點陣參數(shù)或晶胞參數(shù)。這樣一個三維點陣也可以看成是許多相同的平面點陣平行等距排列而成的，這樣一族平面點陣稱為一個平面點陣族，常用符號HKL（HKL為整數(shù)）來表示。一個三維空間點陣劃分為平面點陣族的方式是很多的，其平面點陣的構(gòu)造和面間距d可以是不同的。晶體結(jié)構(gòu)的周期性就可以由這一組dHKL來表示。

XRD即X射線衍射,通常應(yīng)用于晶體結(jié)構(gòu)的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時在晶體中產(chǎn)生周期性變化的電磁場。引起原子中的電子和原子核振動,因原子核的質(zhì)量很大振動忽略不計。振動著的電子是次生X射線的波源,其波長、周相與入射光相同。基于晶體結(jié)構(gòu)的周期性,晶體中各個電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之為衍射。散射波周相一致相互加強的方向稱衍射方向,產(chǎn)生衍射線。 X射線對于晶體的衍射強度是由晶體晶胞中原子的元素種類、數(shù)目及其排列方式?jīng)Q定的。 X射線衍射儀是利用X射線衍射法對物質(zhì)進行非破壞性分析的儀器,由X射線發(fā)生器、測角儀、X射線強度測量系統(tǒng)以及衍射儀控制與衍射數(shù)據(jù)采集、處理系統(tǒng)四大部分組成。X射線衍射儀可幫助客戶迅速準確獲得分析結(jié)果。

x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結(jié)果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結(jié)果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結(jié)果，便可獲得晶體結(jié)構(gòu)。對于晶體材料，當(dāng)待測晶體與入射束呈不同角度時，那些滿足布拉格衍射的晶面就會被檢測出來，體現(xiàn)在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強度的衍射峰。對于非晶體材料。由于其結(jié)構(gòu)不存在晶體結(jié)構(gòu)中原子排列的長程有序，只是在幾個原子范圍內(nèi)存在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。X射線衍射儀是利用X射線衍射法對物質(zhì)進行非破壞性分析的儀器。上海奧林巴斯XRD多少錢

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當(dāng)x射線以掠角θ(入射角的余角)入射到某一點陣晶格間距為d的晶面上時,在符合上式的條件下，將在反射方向上得到因疊加而加強的衍射線。布拉格方程簡潔直觀地表達了衍射所必須滿足的條件。當(dāng) x射線波長λ已知時(選用固定波長的特征x射線)，采用細粉末或細粒多晶體的線狀樣品,可從一堆任意取向的晶體中，從每一θ角符合布拉格方程條件的反射面得到反射,測出θ后，利用布拉格方程即可確定點陣晶面間距、晶胞大小和類型;根據(jù)衍射線的強度,還可進一步確定晶胞內(nèi)原子的排布。這便是x射線結(jié)構(gòu)分析中的粉末法或德拜-謝樂(debye—scherrer)法的理論基礎(chǔ)。而在測定單晶取向的勞厄法中所用單晶樣品保持固定不變動（即θ不變）,以輻射束的波長作為變量來保證晶體中一切晶面都滿足布拉格方程的條件,故選用連續(xù)x射線束。如果利用結(jié)構(gòu)已知的晶體，則在測定出衍射線的方向θ后,便可計算x射線的波長，從而判定產(chǎn)生特征x射線的元素。這便是x射線譜術(shù),可用于分析金屬和合金的成分。安徽奧林巴斯BTX小型臺式XRD定制需要多少錢