X射線衍射中，Kα，Kβ具體代替什么？X射線管發(fā)生出來的不是純凈的單色光，包含多種波長的射線，較主要的是K系射線。K系射線是指陰極電子碰撞陽極，使陽極電子產(chǎn)生K激發(fā)，擊走K層電子后，L層或M層電子填充K層電子而產(chǎn)生的X射線。K系射線又可以細分為Kα（L層電子填充）和Kβ（M層電子填充）兩種波長略有差異的兩種射線。而X射線衍射儀要求使用單色X射線。因此，需要在XRD測試時把后者除掉，傳統(tǒng)的方法是在光路上加入一個濾波片（如Ni）。現(xiàn)在一般使用銅靶，在光路上增加一個石墨晶體單色器來去除Kβ射線。單色器可以去除衍射背底，也可以去除Kβ射線的干擾。Cu的特征譜線波長為：Kα1(1.54056 ?)，Kα2 (1.54439 ?)，Kβ1 (1.39222 ?)。對于銅靶，Kα波長取Kα1與Kα2的加權(quán)平均值，其值為1.54184?(布拉格方程和謝樂公式中的λ)。X射線及其衍射X射線是一種波長很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)。金華衍射儀銷售代理

X射線熒光光譜儀優(yōu)缺點：優(yōu)點: a) 分析速度高。測定用時與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為明顯。波長變化用于化學位的測定 。c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析。e) 分析精密度高。f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。缺點：a）難于作相對分析，故定量分析需要標樣。 b）對輕元素的靈敏度要低一些。c）容易受相互元素干擾和疊加峰影響。江蘇奧林巴斯XRD售價多少錢通常X射線粉末衍射儀配用的是閃爍檢測器。

X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應(yīng)力,精確的進行物相分析,定性分析,定量分析.普遍應(yīng)用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產(chǎn)等領(lǐng)域.X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的一種大型分析儀器，普遍應(yīng)用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業(yè)。基本構(gòu)造　X射線衍射儀的形式多種多樣, 用途各異, 但其基本構(gòu)成很相似, X射線衍射儀的基本構(gòu)造原理圖, 主要部件包括4部分。高穩(wěn)定度X射線源　提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長, 調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強度。

分析電子衍射與x射線衍射有何異同： 相同點是兩者都是可以把晶體看做一個三維的光柵，對不同位置的原子散射的波進行疊加求和，反映的晶格的對稱性信息；不同點是電子衍射是電子受到在空間上周期性變化勢場的散射，電子與樣品的相互作用往往比x射線衍射與樣品作用要強烈一些，往往不止發(fā)生一次散射，即要考慮動力學效應(yīng)（多次散射），x射線是與核外電子發(fā)生作用，與核外的電子分布情況相關(guān)。實用角度的答案，在確定晶體對稱性上，通常是用x射線來定的，因為動力學效應(yīng)很弱，不會出現(xiàn)本來消光的斑點位置因為多次散射的原因又出現(xiàn)亮斑的情況，因此便于分析，另外很重要的一個原因是x射線的制樣更加容易。衍射儀的規(guī)格介紹。歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！

便攜式X 射線衍射儀可能直接分析出巖石的礦物組成及相對含量，并形成了定性、定量的巖性識別方法，為錄井隨鉆巖性快速識別、建立地質(zhì)剖面提供了技術(shù)保障。每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關(guān)關(guān)系。在混合物中，一種物質(zhì)成分的衍射圖譜與其他物質(zhì)成分的存在與否無關(guān)，這就是X 射線衍射做相定量分析的基礎(chǔ)。X 射線衍射是晶體的“指紋”，不同的物質(zhì)具有不同的X 射線衍射特征峰值(點陣類型、晶胞大小、晶胞中原子或分子的數(shù)目、位置等)，結(jié)構(gòu)參數(shù)不同則X 射線衍射線位置與強度也就各不相同，所以通過比較X 射線衍射線位置與強度可區(qū)分出不同的礦物成分。X 射線衍射儀主要采集的是地層中各種礦物的相對含量，并系統(tǒng)采集各種礦物的標準圖譜，包括石英、鉀長石、斜長石、白云石、黃鐵礦等近30 種礦物成分，通過礦物成分的相對含量就可以確定巖石巖性，為現(xiàn)場巖性定名提供定量化的參考依據(jù)，提高特殊鉆井條件下巖性識別準確度。便攜式X射線衍射儀的基本構(gòu)造你真的了解嗎？臺州衍射儀批發(fā)市場

X熒光光譜儀由激發(fā)源和探測系統(tǒng)構(gòu)成。金華衍射儀銷售代理

X射線單晶體衍儀器基本公式：由于晶體中原子是周期排列的，其周期性可用點陣表示。而一個三維點陣可簡單地用一個由八個相鄰點構(gòu)成的平行六面體在三維方向重復(fù)得到。一個晶胞形狀由它的三個邊及它們間的夾角所規(guī)定，這六個參數(shù)稱點陣參數(shù)或晶胞參數(shù)。這樣一個三維點陣也可以看成是許多相同的平面點陣平行等距排列而成的，這樣一族平面點陣稱為一個平面點陣族，常用符號HKL（HKL為整數(shù)）來表示。一個三維空間點陣劃分為平面點陣族的方式是很多的，其平面點陣的構(gòu)造和面間距d可以是不同的。晶體結(jié)構(gòu)的周期性就可以由這一組dHKL來表示。金華衍射儀銷售代理