X射線是利用衍射原理，精確測定物質的晶體結構，織構及應力。對物質進行物相分析、定性分析、定量分析。X射線單晶體衍射儀(X-raysinglecrystaldiffractometer)。本儀器分析的對象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會發生衍射，由對衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規律，也即解出晶體的結構。物質或由其構成的材料的性能是與晶體的結構密切相關的，如金剛石和石墨都是由純的碳構成的，由于它們的晶體結構不同就有著截然不同的性質。隨著X射線衍射儀被普遍應用在各個學科領域，已深入石油勘探、采礦鉆井、采石場等行業。奧林巴斯BTX小型臺式XRD生產商

X射線衍射的一般實驗過程：樣品制備：對于粉末樣品，通常要求其顆粒的平均粒徑控制在5mm左右即過320目的篩子，還要求試樣無擇優取向。因此，通常應用瑪瑙研缽對待測樣品進行充分研磨后使用。對于塊狀樣品應切割出合適的大小，即不超過鋁制樣品架的矩形孔洞的尺寸，另外還要用砂輪和砂紙將其測試面磨得平整光滑。充填試樣：將適量研磨好的試樣粉末填入樣品架的凹槽中，使粉末試樣在凹槽里均勻分布，并用平整光滑的玻片將其壓緊；將槽外或高出樣品架的多余粉末刮去，然后重新將樣品壓平實，使樣品表面與樣品架邊緣在同一水平面上。塊狀樣品直接用橡皮泥或石蠟粘在鋁制樣品架的矩形孔洞中，要求樣品表面與鋁制樣品架表面平齊。奧林巴斯BTX小型臺式XRD生產商x射線粉末衍射可以和其他專業相結合會有更普遍的用途。

多晶材料中晶粒取向沿一定方位偏聚的現象稱為織構,常見的織構有絲織構和板織構兩種類型。為反映織構的概貌和確定織構指數,有三種方法描述織構:極圖、反極圖和三維取向函數,這三種方法適用于不同的情況。對于絲織構,要知道其極圖形式,只要求出其絲軸指數即可,照相法和衍射儀法是可用的方法。板織構的極點分布比較復雜,需要兩個指數來表示,且多用衍射儀進行測定。X射線衍射技術在材料分析領域有著十分多方面的應用,在無機材料、有機材料、鋼鐵冶金、納米材料等研究領域中發揮越來越重要的作用。X射線衍射技術已經成為人們研究材料尤其是晶體材料很方便、很重要的手段。隨著技術手段的不斷創新和設備的不斷完善升級,X射線衍射技術在材料分析領域必將擁有更廣闊的應用前景。

X射線熒光光譜儀的原理是什么？ X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。 近年來，X熒光光譜分析在各行業應用范圍不斷拓展，已成為一種普遍應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域，特別是在RoHS檢測領域應用得多也普遍。 　　大多數分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。上海澤權衍射儀的優勢。歡迎來電咨詢上海澤權！

X射線粉末衍射儀的注意點：影響衍射環質量的主要因素是樣品的取樣性偏差，即晶體的晶癖特征導致某些方向被過度衍射，而其他方向衍射不足；用通俗語言描述即，片狀晶體在測量盤中呈現“躺著/睡著的姿勢”，衍射角集中于水平角度，而在縱向上有所欠缺。此類晶體通常可體現出過篩前后或粉碎前后XRPD圖譜不同，而其實際晶型并未發生變化。因此，針對不同合成工藝所得原料，應先通過顯微鏡觀察其晶癖，再測定粉碎或過篩前后XRPD，避免發生過篩導致晶型變化的錯誤判斷。此外，在晶型特征峰分析時，更關注低角度的峰，因其表示了間距較大的晶面，其衍射峰受干擾的概率較低。總之，判斷不同多晶型的XRPD圖譜，其是否為同一晶型，XRPD中峰的θ角是主要依據，因其角度大小反應的是單元晶格大小；而峰相對強度取決于晶體中的原子種類及其分布位置。如所測圖譜質量不高，則相對峰強度差異通常不應成為晶型不同的判斷依據。X射線衍射儀的形式多種多樣, 用途各異, 但其基本構成很相似。奧林巴斯BTX小型臺式XRD生產商

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根據布拉格公式說明為什么低衍射角區的眼射線強度高于高角區 新回答 ：這個問題是不正確的，請注意，布拉格公式是衍射的幾何條件，是衍射的必要條件，不是充分條件！滿足其后，還必須滿足結構因子不為0（越大當然強，其他條件一樣的話）才能衍射，才有強度！事實上還和重復因子等有關，建議多看相關書籍。 影響粉末x射線衍射圖效果的因素有： ⑴粉末樣品自身顆粒的大小對x射線衍射分析測試結果有比較大的影響； ⑵樣品架裝填粉末樣品量不同對衍射結果有直接的影響； ⑶對于少量樣品或微量試樣采用橫式填樣法更加科學合理。奧林巴斯BTX小型臺式XRD生產商

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