X射線衍射儀技術（XRD）注意事項： （1）固體樣品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必須平整，可以用幾塊粘貼一起。 （2）對于片狀、圓拄狀樣品會存在嚴重的擇優取向，衍射強度異常，需提供測試方向。 （3）對于測量金屬樣品的微觀應力（晶格畸變），測量殘余奧氏體，要求制備成金相樣品，并進行普通拋光或電解拋光，消除表面應變層。 （4）粉末樣品要求磨成320目的粒度，直徑約40微米，重量大于5g。X射線是原子內層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產生的光輻射，主要有連續X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數目的粒子（原子、離子或分子）所產生的相干散射將會發生光的干涉作用，從而使得散射的X射線的強度增強或減弱。衍射儀廠家直供優勢。歡迎來電咨詢上海澤權！宿遷衍射儀批發

便攜式XRD衍射儀是一種用于能源科學技術領域的科學儀器X射線發生器，射線管功率：10W，X射線輻射劑量：儀器表面2cm處輻射能級0.5mRad/H；樣品振動系統，測量角度范圍：5°—55°，微量樣品室：小可檢測樣品量15mg，掃描方式：全譜掃描；探測器，探測效率：98%，XRD 分辨率 0.25°(2θFWHM)，XRF 分辨率230eV；冷卻系統：制冷方式：2D Peltier 電子制冷，儀器制冷效率：儀器正常工作持續8時機箱溫度不超過35℃；數據庫：PDF2由國際衍射數據中心(ICDD)中心提供，至少包含3000多種礦物30000多個礦物數據。 江蘇奧林巴斯XRD代理公司X射線能使熒光物質發光、照相機乳膠感光、氣體電離。

樣品的平均晶粒尺寸，基本原理：當X射線入射到小晶體時，其衍射線條將變得彌散而寬化，晶體的晶粒越小，x射線衍射譜帶的寬化程度就越大。樣品的相對結晶度：一般將很強衍射峰積分所得的面積（As）當作計算結晶度的指標，與標準物質積分所得面積(Ag)進行比較，結晶度=As/Ag*100%。物相含量的定量分析：主要有K值法也叫RIR方法和Rietveld全譜精修定量等。其中，RIR法的基本原理為1:1混合的某物質與剛玉(Al2O3),其很強衍射峰的積分強度會有一個比值，該比值為RIR值。通過將該物質的積分強度/RIR值總是可以換算成Al2O3的積分強度。對于一個混合物而言，物質中所有組分都按這種方法進行換算，可以通過歸一法得到某一特定組分的百分含量。

衍射儀對晶體結構不完整性的研究包括對層錯、位錯、原子靜態或動態地偏離平衡位置，短程有序，原子偏聚等方面的研究（見晶體缺陷）。合金相變包括脫溶、有序無序轉變、母相新相的晶體學關系等。結構分析對新發現的合金相進行測定，確定點陣類型、點陣參數、對稱性、原子位置等晶體學數據。液態金屬和非晶態金屬研究非晶態金屬和液態金屬結構，如測定近程序參量、配位數等。X射線衍射是一種通過儀器進行檢測的光學分析法，將單色X射線照到粉晶樣品上，若其中一個晶粒的一組面網取向和入射X射線夾角為θ時，滿足衍射條件，則在衍射角2θ處產生衍射。粉末衍射也可以分析出空間結構.但是大分子（比如蛋白質等）等復雜的很難分析。

X射線衍射儀技術(X-raydiffraction，XRD)。通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時,該物質被X射線照射產生不同程度的衍射現象,物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生特有的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優點。因此,X射線衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現代科學方法,已逐步在各學科研究和生產中廣泛應用。X-衍射儀是一種用于物理學、地球科學領域的分析儀器。蕪湖衍射儀哪家可以代理

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X射線衍射儀技術（XRD）可為客戶解決的問題： （1）當材料由多種結晶成分組成，需區分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結晶相的比例。 （2）很多材料的性能由結晶程度決定，可使用XRD結晶度分析，確定材料的結晶程度。 （3）新材料開發需要充分了解材料的晶格參數，使用XRD可快捷測試出點陣參數，為新材料開發應用提供性能驗證指標。 （4）產品在使用過程中出現斷裂、變形等失效現象，可能涉及微觀應力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應力。 （5）納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數據。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。宿遷衍射儀批發