等離子體刻蝕機要求相同的元素是：化學刻蝕劑和能量源。物理上，等離子體刻蝕劑由反應室、真空系統、氣體供應、終點檢測和電源組成。晶圓被送入反應室，并由真空系統把內部壓力降低。在真空建立起來后，將反應室內充入反應氣體。對于二氧化硅刻蝕，氣體一般使用CF4和氧的混合劑。電源通過在反應室中的電極創造了一個射頻電場。能量場將混合氣體激發或等離子體狀態。在激發狀態，氟刻蝕二氧化硅，并將其轉化為揮發性成分由真空系統排出。ICP刻蝕設備能夠進行(氮化鎵）、(氮化硅）、（氧化硅）、(鋁鎵氮）等半導體材料進行刻蝕。干法刻蝕優點是：無化學廢液。吉林深硅刻蝕材料刻蝕

二氧化硅濕法刻蝕：較普通的刻蝕層是熱氧化形成的二氧化硅。基本的刻蝕劑是氫氟酸，它有刻蝕二氧化硅而不傷及硅的優點。然而，飽和濃度的氫氟酸在室溫下的刻蝕速率約為300A/s。這個速率對于一個要求控制的工藝來說太快了。在實際中，氫氟酸與水或氟化銨及水混合。以氟化銨來緩沖加速刻蝕速率的氫離子的產生。這種刻蝕溶液稱為緩沖氧化物刻蝕或BOE。針對特定的氧化層厚度，他們以不同的濃度混合來達到合理的刻蝕時間。一些BOE公式包括一個濕化劑用以減小刻蝕表面的張力，以使其均勻地進入更小的開孔區。四川半導體材料刻蝕外協在Si片上形成具有垂直側壁的高深寬比溝槽結構是制備先進MEMS器件的關鍵工藝，其各向異性刻蝕要求非常嚴格。

反應離子刻蝕：這種刻蝕過程同時兼有物理和化學兩種作用。輝光放電在零點幾到幾十帕的低真空下進行。硅片處于陰極電位，放電時的電位大部分降落在陰極附近。大量帶電粒子受垂直于硅片表面的電場加速，垂直入射到硅片表面上,以較大的動量進行物理刻蝕,同時它們還與薄膜表面發生強烈的化學反應，產生化學刻蝕作用。選擇合適的氣體組分，不僅可以獲得理想的刻蝕選擇性和速度，還可以使活性基團的壽命短，這就有效地阻止了因這些基團在薄膜表面附近的擴散所能造成的側向反應，較大提高了刻蝕的各向異性特性。反應離子刻蝕是超大規模集成電路工藝中比較有發展前景的一種刻蝕方法

工藝所用化學物質取決于要刻蝕的薄膜類型。介電刻蝕應用中通常使用含氟的化學物質。硅和金屬刻蝕使用含氯成分的化學物質。在工藝中可能會對一個薄膜層或多個薄膜層執行特定的刻蝕步驟。當需要處理多層薄膜時，以及刻蝕中必須精確停在某個特定薄膜層而不對其造成損傷時，刻蝕工藝的選擇比就變得非常重要。選擇比是兩個刻蝕速率的比率：被去除層的刻蝕速率與被保護層的刻蝕速率（例如刻蝕掩膜或終止層）。掩?；蛲Ｖ箤樱┩ǔ６枷Ｍ懈叩倪x擇比。二氧化硅濕法刻蝕：普通的刻蝕層是熱氧化形成的二氧化硅。

反應離子刻蝕是當前常用技術路徑，屬于物理和化學混合刻蝕。在傳統的反應離子刻蝕機中，進入反應室的氣體會被分解電離為等離子體，等離子體由反應正離子、自由基，浙江氮化硅材料刻蝕服務價格、反應原子等組成。反應正離子會轟擊硅片表面形成物理刻蝕，同時被轟擊的硅片表面化學活性被提高，之后硅片會與自由基和反應原子形成化學刻蝕。這個過程中由于離子轟擊帶有方向性，RIE技術具有較好的各向異性。目前先進集成電路制造技術中用于刻蝕關鍵層的刻蝕方法是高密度等離子體刻蝕技術。傳統的RIE系統難以使刻蝕物質進入高深寬比圖形中并將殘余生成物從中排出，因此不能滿足0.25μm以下尺寸的加工要求，解決辦法是增加等離子體的密度。高密度等離子體刻蝕技術主要分為電子回旋加速振蕩（ECR）、電容或電感耦合等離子體（CCP/ICP）。刻蝕成了通過溶液、反應離子或其它機械方式來剝離、去除材料的一種統稱。隨著光刻膠技術的進步，只需要一次涂膠，兩次光刻和一次刻蝕的雙重光刻工藝也成為可能。四川半導體材料刻蝕外協

干法刻蝕優點是：潔凈度高。吉林深硅刻蝕材料刻蝕

在半導體制造中有兩種基本的刻蝕工藝：干法刻蝕和濕法腐蝕。干法刻蝕是把硅片表面曝露于氣態中產生的等離子體，等離子體通過光刻膠中開出的窗口，與硅片發生物理或化學反應（或這兩種反應），從而去掉曝露的表面材料。干法刻蝕是亞微米尺寸下刻蝕器件的較重要方法。而在濕法腐蝕中，液體化學試劑（如酸、堿和溶劑等）以化學方式去除硅片表面的材料。濕法腐蝕一般只是用在尺寸較大的情況下（大于3微米）。濕法腐蝕仍然用來腐蝕硅片上某些層或用來去除干法刻蝕后的殘留物。吉林深硅刻蝕材料刻蝕

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