光譜共焦技術的非接觸測量Irix?是一系列基于彩色共焦技術的非接觸式傳感器,能夠測量對白光透明的任何材料上的距離和厚度。Irix?可同時測量5層材料。該控制器可與一大系列具有不同測量范圍、機械尺寸和計量規范的光學探針結合使用,以滿足多樣化的應用需求。控制器有兩種型號可供選擇:帶7英寸集成顯示屏,或帶有用于文件柜.display或采用盲板形式,機柜采用帶DIN導軌連接。Irix控制器系列由不同型號(1個和2個同步通道)組成,結合各種各樣的光學元件(Marposs和STIL),可提供優良的計量性能(高達納米)。Irix以比較高的質量標準制造,是一種堅固可靠的產品,適合在工業環境中使用。彩色共焦技術允許測量任何能夠反射白光的材料(例如:金屬、玻璃、塑料、漆膜、液體)。非接觸式測量適用于所有需要在不接觸目標的情況下進行測量的情況一個光學探針可同時測量多達五個透明層高測量精度可互換傳感器;Irix可保存多達32張地圖,以便使用比較合適的探頭。集成7“顯示器不受熱噪聲和電噪聲影響的無源光學探頭SDK和協議命令的可用性,便于集成到任何系統中縮小測量點動態采集用編碼器同步測量(空間同步)粗糙度測量光譜共焦傳感器,就選馬波斯測量科技,用戶的信賴之選,歡迎您的來電哦!遼寧3D 視覺測量傳感器解決方案
光軸的彩色編碼意味著光學系統具有軸向色差:每個波長聚焦在沿該軸的不同點上。現在假設一個樣本存在于色譜編碼范圍內,這樣波長λ0就會聚焦在它的表面上。當反射(或后向散射)光束到達***平面時,波長的光線會聚焦在***上,以便它們可以穿過***并到達光譜儀的敏感區域。其他波長成像為大點,因此它們被***阻擋。該光譜儀通過識別波長λ0來“解讀”樣品位置。光譜儀信號與已收集光的光譜再分配相對應。它呈現一個光譜峰值。當物體在測量范圍內位移時,光譜儀上的光譜峰值隨之發生變化。江蘇光譜共焦視覺檢測傳感器測量速度光譜共焦傳感器,就選馬波斯測量科技,讓您滿意,歡迎您的來電哦!
多個產品同時測量減少成本測量對象可任意擺放,多個產品可同時測量,**節省測量時間,減少用工成本!低畸變圖像無變形即便在鏡頭邊緣部位測量,圖像畸變也很小,無需擔心測量對象所放位置。缺陷過濾測量位置包含有毛邊或缺陷時系統能自動識別,排除異常點提高測量的準確度。數據追溯管理更簡單測量結果自動保存,可按測量日期、產品名稱、產品料號等信息搜索,數據追溯管理簡單優勢:測量更準確采用雙倍率雙側遠心光學鏡頭,具有較高的遠心度,即使有段差情況下也能高精度正確的測量。倍率涵蓋0.16X大視野/0.7X高精度。
什么是光譜共焦干涉儀?非接觸式輪廓測量技術中的測量精度通常受到機械振動和微掃描臺位置不準確性的限制。為了從這些環境干擾中解放出來,開發了一種新的對振動不敏感的干涉測量方法。采用這種新型光譜共焦干涉儀系統,干涉儀顯微鏡的潛在亞納米級精度是極其有效的。原理:干涉測量法基于白光干涉圖(SAWLI)的光譜分析。是光譜共焦傳感器等光學檢測儀器儀表中必然涉及到的概念。它包括分析在光譜儀上觀察到的干擾信號,以便測量參比板和樣品之間的氣隙厚度。發達系統的**性在于將參考板固定在檢測目標上。由于參考板和樣品固定在一起,機械振動不會影響測量結果。此外,該傳感器可用于測量太薄而不允許使用色彩共焦技術的透明薄膜。**小可測厚度為0.4μm。馬波斯測量科技是一家專業提供光譜共焦傳感器的公司,歡迎您的來電哦!
在半導體行業應用:LED芯片三維測量LED晶圓光學檢測BGA半導體封裝光伏晶圓表面形貌測量涂層厚度時與部件無任何接觸。激光和紅外傳感器可分析2至50厘米距離的涂層。這意味著可以在工業涂層環境中測量部件,即使它們位于移動產線上、在高溫環境中,甚至易碎或潮濕環境中。由于激光束產生的熱量極少,因此測量過程中涂層和部件都不會被損壞或改變。因此,對于那些迄今已有的方法會破壞測試樣品的工業運用,它也可以系統地測量每個部件。測量通常不到一秒鐘,具有高度重復性。這樣可以控制高達100%的涂層部件,嚴格遵循涂層工藝性能并實時反應以保持比較好狀馬波斯測量科技致力于提供專業的光譜共焦傳感器,竭誠為您。安徽Marposs 傳感器測量速度
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應用范圍:光譜共聚焦傳感器既可用于工業環境中,也可用于生產過程中的在線檢測以及實驗室環境中的高精度儀器。他們主要涵蓋以下內容:l微形貌(測量樣品的形狀和表面特征)l尺寸控制(測試制造產品的特定尺寸是否符合規格)l質量控制(制造產品缺陷的識別和特征描述)l粗糙度測量(測量樣品表面的統計特征)l摩損度(表征機械或化學侵蝕)l厚度測量光譜共焦傳感器完全符合涉及3D真實表面紋理的測量和分析的ISO25178標準。此外,此標準第601章節致力于非接觸式表面測量,引用CCI作為***參考技術原理遼寧3D 視覺測量傳感器解決方案