在緊固件的質(zhì)量控制方面，螺栓、銷釘和鉚釘都可以通過Optoflash實(shí)現(xiàn)快速測量。標(biāo)準(zhǔn)的測量選項(xiàng)里包括螺紋測量功能：螺紋大徑、螺紋小徑、螺紋中徑、螺距、嚙合角度、螺紋總長度、螺紋起始點(diǎn)角向、螺紋軸線、螺紋同軸度等。基于2D圖像采集技術(shù)，Optoflash是測量渦輪增壓器的完美解決方案比較大的優(yōu)勢在于，Optoflash可通過一張2D圖像采集到整個(gè)工件輪廓，所以能夠用更快的速度測量到整個(gè)葉片的輪廓（而不是數(shù)個(gè)截面），并且更加精確可靠。Optoflash的測量速度是傳統(tǒng)線掃描光學(xué)系統(tǒng)的兩倍。馬波斯集團(tuán)Hetech品牌一直致力于泄漏檢測系統(tǒng)領(lǐng)域的研究，也是這一嶄新市場生產(chǎn)商的有力合作伙伴。發(fā)動機(jī)檢測設(shè)備報(bào)價(jià)

實(shí)際上，在進(jìn)行量產(chǎn)階段自動檢測方面，馬波斯能夠提供有效的動力電池包的泄漏檢測方案。在進(jìn)行動力電池包泄漏檢測的過程中，馬波斯能夠提供不同的泄漏檢測方法，幫助客戶檢查電池托盤、電池框以及電池上蓋的質(zhì)量。與此同時(shí)，馬波斯還能在生產(chǎn)線EOL階段檢測電池包成品的密封性。馬波斯能夠提供的動力電池包的泄漏檢測方案包括以下方面，一方面，馬波斯能夠提供自動機(jī)器人氦氣嗅探方案和維修工位手動氦氣嗅探設(shè)備，另一方面，馬波斯可提供累積室氦氣整體檢測方案，并且利用空氣法檢測冷卻回路的氣密性。湖南電驅(qū)動檢測設(shè)備廠家馬波斯為電動馬達(dá)及其組件開發(fā)生產(chǎn)的所有階段的所有電氣測試和絕緣問題檢測提供定制的在線和離線解決方案。

Optoquick便于簡單和快捷的操作，采用單擊循環(huán)的自動測量方式，便于操作人員進(jìn)出的開放式上下料區(qū)，安全光幕的保護(hù)自動的環(huán)境溫度補(bǔ)償，工件溫度補(bǔ)償?shù)倪x項(xiàng)，工件裝載夾緊確認(rèn)和防錯(cuò)的信號反饋。Optoquick柔性且智能采用單個(gè)系統(tǒng),靈活測量不同種的工件二維碼掃描程序。掃描二維碼,錄入信息,自動選擇工件測量程序人體工程學(xué)的尾架定位,操作舒適快捷具備多種工件夾具,如定心前列,球前列,卡盤,平托盤(或磁性),氣動吸盤夾具等,滿足絕大多數(shù)現(xiàn)場需求。

Optoflash是世界上軸向可以采用多個(gè)光學(xué)傳感器的測量系統(tǒng)。這意味著可以通過不同的光學(xué)傳感器分別獲取圖像，然后將所有圖像完美地結(jié)合在一起，從而生成一幅單一的工件合成圖像，并可確保合成邊緣毫無任何斷點(diǎn)和缺口。得益于這一獨(dú)特的設(shè)計(jì)，Optoflash測量系統(tǒng)無需光學(xué)系統(tǒng)或工件本身進(jìn)行任何軸向運(yùn)動,就可以覆蓋長度達(dá)300mm的測量范圍。當(dāng)前，作為世界上前列的軸向可以采用多個(gè)光學(xué)傳感器的測量系統(tǒng)。Optoflash的總測量時(shí)間可達(dá)5.6秒!馬波斯將自動化和測試有效地結(jié)合在一起，馬波斯將測試技術(shù)無縫整合到客戶的作業(yè)流程中。

Marposs為各種制造過程的控制和·優(yōu)化提供解決方案,從單個(gè)組件到裝配制程的控制,以及整個(gè)裝配方案的功能檢查。通過反電動勢分析檢查永磁轉(zhuǎn)子的磁場均勻性、檢查感應(yīng)電機(jī)鼠籠轉(zhuǎn)子條的局部缺陷、繞線轉(zhuǎn)子的絕緣測試，包括局部放電測量等。研究表明,在某類電機(jī)中使用hairpin扁線繞組具有許多優(yōu)點(diǎn)。更高的銅槽填充系數(shù)減少了熱量,提高轉(zhuǎn)矩和功率密度,從而減小電動汽車電機(jī)的尺寸。Hairpin有靈活的結(jié)構(gòu)和獨(dú)特的形狀:尺寸、角度和截面等均有不同。這就是為什么每一個(gè)hairpin的幾何尺寸和質(zhì)量都有必要檢查,以確保質(zhì)量穩(wěn)定。渦流探測（EC）是一系列無損技術(shù)（NDT），用于檢查被測組件的表面質(zhì)量和材料特性。天津燃料電池檢測設(shè)備廠家

渦流探測的重要優(yōu)點(diǎn)包括操作員不需要檢查并確定零件是完好的還是已經(jīng)報(bào)廢，因此消除了人為錯(cuò)誤。發(fā)動機(jī)檢測設(shè)備報(bào)價(jià)

對于半導(dǎo)體行業(yè)來說，圓晶測量和缺陷檢測都是半導(dǎo)體生產(chǎn)的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，檢測和控制生產(chǎn)中的每一步生產(chǎn)質(zhì)量。為了顯微測量，馬波斯提供2D光譜共焦線掃相機(jī)。在超高分辨率和超大景深應(yīng)用中，可在Z軸上準(zhǔn)確聚焦。因此，這是檢測圓晶缺陷的理想選擇，例如，圓晶沿的檢測和封裝期間的檢測。這些傳感器都允許集成在測量和檢測設(shè)備中。馬波斯和STIL在數(shù)十年的發(fā)展中積累了豐富的經(jīng)驗(yàn)，可為用戶提供量身定制解決方案和的光學(xué)設(shè)計(jì)。馬波斯的小橫向分辨率為0.4μm*0.4μm，大傾斜角為+/-45°，0.75數(shù)值孔徑。發(fā)動機(jī)檢測設(shè)備報(bào)價(jià)